[发明专利]非破坏检查装置在审

专利信息
申请号: 202010439967.5 申请日: 2020-05-22
公开(公告)号: CN112649448A 公开(公告)日: 2021-04-13
发明(设计)人: 福田贤次郎;篠原正治;半杭秀一 申请(专利权)人: 东芝IT·控制系统株式会社
主分类号: G01N23/04 分类号: G01N23/04;G01B15/00
代理公司: 北京同立钧成知识产权代理有限公司 11205 代理人: 马爽;臧建明
地址: 日本东京新宿区西新宿六丁*** 国省代码: 暂无信息
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摘要:
搜索关键词: 破坏 检查 装置
【说明书】:

本发明提供一种提高检查节拍的非破坏检查装置。本发明的非破坏检查装置包括:两个放射线发生器(2),对具有四个角的被检查物(100)照射放射线束;以及两个放射线检测器(3),分别与两个放射线发生器(2)相向而设置。放射线束的光轴在被检查物(100)的近前交叉,通过被检查物(100)的四个角中的放射线发生器(2)侧的两个角。

技术领域

本发明的实施方式涉及一种非破坏检查装置。

背景技术

已知有如下的非破坏检查装置:对被检查物照射以X射线为代表的放射线,检测通过通过被检查物而减弱的放射线的二维分布并将其图像化,由此进行被检查物的非破坏检查。被检查物例如是锂离子聚合物电池。锂离子聚合物电池具有在其内部层叠有平面状的正极板及负极板的结构。

若所述层叠存在偏移,即若正极板超出负极板,则在超出的正极板析出有锂而发生短路,从而有可能着火。因此,必须检查锂离子聚合物电池内部的正极板与负极板的位置偏移。所述检查由非破坏检查装置进行。

为了提高检查的正确性,理想的是对被检查物的四个角中的至少两个进行拍摄。因此,例如,在对一个角照射放射线束之后,使被检查物沿着水平面旋转,进而对另一个角照射放射线束,对两个角进行拍摄。

[现有技术文献]

[专利文献]

[专利文献1]日本专利特开2011-39014号公报

发明内容

[发明所要解决的问题]

然而,在此种检查装置中,为了对一个被检查物进行检查,需要拍摄、旋转、拍摄这三个步骤,从而检查需要时间。特别是,为了提高被检查物的质量,若对被检查物的四个角全部进行检查,则需要两倍以上的步骤。另一方面,为了提高检查节拍,若设置多个检查线,则会存在导致装置的大型化、复杂化的问题。

为了解决所述问题,本实施方式的目的在于提供一种提高检查节拍的非破坏检查装置。

[解决问题的技术手段]

实施方式的非破坏检查装置包括如下所述的构成。

(1)两个放射线发生器,对具有四个角的被检查物照射放射线束。

(2)两个放射线检测器,分别与所述两个放射线发生器相向而设置。

(3)所述放射线束的光轴在所述被检查物的近前交叉,通过所述被检查物的四个角中的所述放射线发生器侧的两个角。

附图说明

图1是表示实施方式的非破坏检查装置的构成的平面图。

图2是表示实施方式的非破坏检查装置的构成的侧视图。

图3是表示实施方式的放射线发生器与被检查物的位置关系的平面图。

图4是表示实施方式的搬送机构及检查台的立体图。

图5是表示实施方式的控制装置与各构成的关系的框图。

图6的(a)~图6的(d)是说明实施方式的搬送装置及检查台的运行的图。

图7是表示实施方式的非破坏检查装置的运行的流程图。

[符号的说明]

1:非破坏检查装置

10:托盘

10a:对象托盘

10b:检查完毕托盘

11:定位构件

12:凹部

100:被检查物

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