[发明专利]质控物质选择方法及装置

说明书

本发明公开了一种质控物质选择方法及装置，所述方法包括：分别对被测样品和可选质控物质进行非接触成像处理，得到高光谱图像；采集高光谱图像中被测样品的光谱数据和可选质控物质的光谱数据；将被测样品的光谱数据作为目标数据，将可选质控物质的光谱数据作为对比数据，对所述目标数据和所述对比数据进行相似性比较分析，得到比较分析结果；根据所述比较分析结果选出目标质控物质。利用本发明，可以提高质控物质选择的准确性及效率，从而达到提高未知样品分析准确度的目的。

技术领域

本发明涉及标准物质质量控制技术，具体涉及一种质控物质选择方法 及装置。

背景技术

现代地质行业对岩石矿物进行成份分析，多需依赖于标准物质进行质 量控制，选择原则是样品与标准物质的基体相似度，相似度越高，越有利 于提高分析结果的准确性。现有的标准物质选择多依赖实验人员的主观判 断，即根据检验检测项目的实际要求，和现有标准物质的适用要求进行选 择。如，分析黄土样品中铜含量，需首先选择黄土类标准物质，并从中选择铜含量与被分析样品铜含量相近的标准物质。而实际情况是，在未对被 分析样品进行分析前，人工无法判断哪种标准物质铜含量与被分析样品铜 含量相近；若选择所有黄土类标准物质与样品一同分析，势必会造成不必 要的浪费。现亟需一种高效环保的质控/标准物质选择方法，既能较为准确 的指导质控/标准物质选择，又能避免污染和浪费。

发明内容

本发明提供一种质控物质选择方法及装置，以提高质控物质选择的准 确性及效率。

为此，本发明提供如下技术方案：

一种质控物质选择方法，所述方法包括：

分别对被测样品和可选质控物质进行非接触成像处理，得到高光谱图 像；

采集高光谱图像中被测样品的光谱数据和可选质控物质的光谱数据；

将被测样品的光谱数据作为目标数据，将可选质控物质的光谱数据作 为对比数据，对所述目标数据和所述对比数据进行相似性比较分析，得到 比较分析结果；

根据所述比较分析结果选出目标质控物质。

可选地，所述分别对被测样品和可选质控物质进行非接触成像处理， 得到高光谱图像包括：

利用高光谱成像系统分别对被测样品和可选质控物质进行非接触成像 处理，得到高光谱图像。

可选地，所述对所述目标数据和所述对比数据进行相似性比较分析， 得到比较分析结果包括：

分别对所述目标数据和所述对比数据进行修正处理，得到修正后的数 据；

确定所述被测样品和可选质控物质高光谱成像图中的感兴趣区域；

根据所述修正后的数据确定所述被测样品的感兴趣区域的平均光谱曲 线和所述可选质控物质的感兴趣区域的平均光谱曲线；

利用所述光谱曲线进行相似性比较分析，得到比较分析结果。

可选地，所述分别对所述目标数据和所述对比数据进行修正处理包括：

分别对所述目标数据和所述对比数据进行校正，所述校正包括：辐射 校正和黑白校正；

将校正后的数据转换为相对反射率数据，对所述相对反射率数据进行 最小噪声分离变换。

可选地，所述利用所述光谱曲线进行相似性比较分析，得到比较分析 结果包括：

计算被测样品光谱曲线与空白样品光谱曲线各波段一阶导数距离，并 选出其中的最大值作为被测样品光谱曲线的最大一阶导数距离；

计算可选质控物质光谱曲线与所述空白样品光谱曲线各波段一阶导数 距离，并选出其中的最大值作为可选质控物质光谱曲线的最大一阶导数距 离；