[发明专利]同步动态随机存储器测试方法和装置

说明书

本发明公开了一种同步动态随机存储器测试方法和装置。其中，该方法包括：获取预配置的第一测试数据，其中，第一测试数据用于测试同步动态随机存储器SDRAM是否存在连线故障，第一测试数据包括多条测试数据；将第一测试数据写入到SDRAM中，得到第一写入结果；在读取一条第一写入结果，得到一条第一读取结果之后，比对第一读取结果与第一预定输出结果，得到第一统计数据；在第一统计数据大于第一预定阈值的情况下，确定SDRAM出现连线故障。本发明解决了测试SDRAM准确度差的技术问题。

技术领域

本发明涉及计算机领域，具体而言，涉及一种同步动态随机存储器测试方法和装置。

背景技术

现有技术中，在测试同步动态随机存储器SDRAM的过程中，通常是写入一个数据后，立即读出该数据，从而测试SDRAM是否有故障。

然而，上述测试方法由于需要每写入一个数据后立即读取该数据，因此，无法准确测试出SDRAM是否存在连接线故障。也就是说，现有的测试SDRAM的方法对SDRAM的测试准确度差。

针对上述的问题，目前尚未提出有效的解决方案。

发明内容

本发明实施例提供了一种同步动态随机存储器测试方法和装置，以至少解决测试SDRAM准确度差的技术问题。

根据本发明实施例的一个方面，提供了一种同步动态随机存储器测试方法，包括：获取预配置的第一测试数据，其中，所述第一测试数据用于测试同步动态随机存储器SDRAM是否存在连线故障，所述第一测试数据包括多条测试数据；将所述第一测试数据写入到所述SDRAM中，得到第一写入结果；在读取一条所述第一写入结果，得到一条第一读取结果之后，比对所述第一读取结果与第一预定输出结果，得到第一统计数据，其中，所述第一预定输出结果为配置的数据，一条所述第一测试数据对应一条所述第一写入结果，一条所述第一写入结果对应一条所述第一读取结果；在所述第一统计数据大于第一预定阈值的情况下，确定所述SDRAM出现所述连线故障。

根据本发明实施例的另一方面，还提供了一种同步动态随机存储器测试装置，包括：第一获取单元，用于获取预配置的第一测试数据，其中，所述第一测试数据用于测试同步动态随机存储器SDRAM是否存在连线故障，所述第一测试数据包括多条测试数据；第一写入单元，用于将所述第一测试数据写入到所述SDRAM中，得到第一写入结果；第一比对单元，用于在读取一条所述第一写入结果，得到一条第一读取结果之后，比对所述第一读取结果与第一预定输出结果，得到第一统计数据，其中，所述第一预定输出结果为配置的数据，一条所述第一测试数据对应一条所述第一写入结果，一条所述第一写入结果对应一条所述第一读取结果；第一确定单元，用于在所述第一统计数据大于第一预定阈值的情况下，确定所述 SDRAM出现所述连线故障。

作为一种可选的实施方式，上述装置还包括：第一记录单元，用于在确定所述SDRAM出现所述连线故障之前，在写入所述第一测试数据时，记录写入时长；第二记录单元，用于在读取所述第一写入结果时，记录读取时长；第二确定单元，用于在所述写入时长大于预定时长，或者在所述读取时长大于所述预定时长的情况下，结束测试，并确定所述SDRAM出现超时故障。