[发明专利]基于激光的焊缝参数测量方法及装置有效

专利信息
申请号: 202010446661.2 申请日: 2020-05-25
公开(公告)号: CN111633358B 公开(公告)日: 2021-11-09
发明(设计)人: 景岩;梁桉洋;康承飞;夏欢;丁孟嘉;秦伟铭;陈昱杉 申请(专利权)人: 西咸新区大熊星座智能科技有限公司
主分类号: B23K37/00 分类号: B23K37/00;B23K37/02;B25J11/00
代理公司: 连云港联创专利代理事务所(特殊普通合伙) 32330 代理人: 鲁超
地址: 710000 陕西省西安市西咸新区*** 国省代码: 陕西;61
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摘要:
搜索关键词: 基于 激光 焊缝 参数 测量方法 装置
【权利要求书】:

1.一种基于激光的焊缝参数测量方法,其特征在于,包括:

接收焊缝坐标数据,所述焊缝坐标数据由激光从左到右扫描焊缝依次得到的;

根据所述焊缝坐标数据,获取最低点坐标数据、左边沿点坐标数据和右边沿点坐标数据;

根据所述最低点坐标数据、所述左边沿点坐标数据和所述右边沿点坐标数据,获取焊缝参数数据;

根据所述焊缝参数数据,对焊缝进行焊接处理;

所述根据所述焊缝坐标数据,获取最低点坐标数据,包括:

对所述焊缝坐标数据进行遍历处理,获取纵坐标最小的多个第一坐标数据;

获取多个所述第一坐标数据的多个横坐标;

对所述多个横坐标进行排序处理,获取第一中位数;

根据所述第一中位数和所述第一坐标数据,获取所述最低点坐标数据;

还包括:

获取所述最低点坐标数据左边所有坐标数据的多个第一纵坐标,以及所述最低点坐标数据右边所有坐标数据的多个第二纵坐标;

对多个所述第一纵坐标和所述第二纵坐标分别进行平均处理,分别获取第一均值和第二均值;

从左到右对所述焊缝坐标数据进行遍历处理,获取第一个纵坐标低于所述第一均值的左边沿参考坐标;

从右到左对所述焊缝坐标数据进行遍历处理,获取第一个纵坐标低于所述第二均值的右边沿参考坐标;

根据所述最低点坐标数据、所述左边沿参考坐标和所述右边沿参考坐标,获取焊缝的左边坡口角度参数和右边坡口角度参数;

所述根据所述焊缝坐标数据,获取左边沿点坐标数据,包括:

从左到右获取所述焊缝坐标数据的多个第二坐标数据,根据多个所述第二坐标数据获取第二边沿点坐标数据;

根据第三策略对所述第二边沿点坐标数据、所述最低点坐标数据和所述左边沿参考坐标进行处理,获取所述左边沿点坐标数据的横坐标,其中,所述第三策略如下:

X1EL=X1m+((Z13-Z1m)/(Z11-Z1m))*(X11-X1m)

式中,X1EL代表所述左边沿点坐标数据的横坐标,Z13代表第二边沿点坐标数据的纵坐标,X1m代表所述最低点坐标数据的横坐标,X11代表所述左边沿参考坐标的横坐标,Z1m代表所述最低点坐标数据的纵坐标,Z11代表所述左边沿参考坐标的纵坐标;

根据所述左边沿点坐标数据的横坐标,获取所述左边沿点坐标数据的纵坐标;

根据所述左边沿点坐标数据的横坐标和所述左边沿点坐标数据的纵坐标,获取所述左边沿点坐标数据;

所述根据所述焊缝坐标数据,获取右边沿点坐标数据,包括:

从右到左获取所述焊缝坐标数据的多个第三坐标数据,根据多个所述第三坐标数据获取第三边沿点坐标数据;

根据第四策略对所述第三边沿点坐标数据、所述最低点坐标数据和所述右边沿参考坐标进行处理,获取所述右边沿点坐标数据的横坐标,其中,所述第四策略如下:

X1ER=X1m+((Z14-Z1m)/(Z12-Z1m))*(X12-X1m)

式中,X1ER代表所述右边沿点坐标数据的横坐标,Z14代表第三边沿点坐标数据的纵坐标,X12代表所述右边沿参考坐标的横坐标,Z12代表所述右边沿参考坐标的纵坐标;

根据所述右边沿点坐标数据的横坐标,获取所述右边沿点坐标数据的纵坐标;

根据所述右边沿点坐标数据的横坐标和所述右边沿点坐标数据的纵坐标,获取所述右边沿点坐标数据。

2.根据权利要求1所述的方法,其特征在于,所述根据所述最低点坐标数据、所述左边沿参考坐标和所述右边沿参考坐标,获取焊缝的左边坡口角度参数,包括:

根据第一策略对所述最低点坐标数据、所述左边沿参考坐标和所述右边沿参考坐标进行处理,获取所述左边坡口角度参数,所述第一策略如下:

A1=atan((X1m-X11)/(Z1m-Z11))

式中,A1代表所述左边坡口角度参数,X1m代表所述最低点坐标数据的横坐标,X11代表所述左边沿参考坐标的横坐标,Z1m代表所述最低点坐标数据的纵坐标,Z11代表所述左边沿参考坐标的纵坐标。

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