[发明专利]存储器装置

说明书

本公开的实施例涉及存储器装置。一种存储器装置包含至少一个第一寄存器、一存储器电路、一分析电路以及一控制电路。存储器电路包含多个位单元。分析电路被配置为对这些位单元执行一分析程序，以产生一分析结果。若分析结果指示这些位单元中的一第一位单元失效，控制电路控制一数据写入至少一个第一寄存器，及控制数据从至少一个第一寄存器读出，以完成一修复程序。

技术领域

本公开中所述实施例内容是有关于一种存储器技术，特别关于一种具有修复机制的存储器装置。

背景技术

随着存储器技术的发展，存储器装置已应用至许多领域，以存储各式数据。基于不同的应用(例如：不同功耗)，存储器装置需运作于不同的环境条件。当存储器装置中的位单元(bit cell)失效，将会影响到存储器装置的正常运作。

发明内容

本公开的一些实施方式是关于一种存储器装置。存储器装置包含至少一个第一寄存器、一存储器电路、一分析电路以及一控制电路。存储器电路包含多个位单元。分析电路被配置为对这些位单元执行一分析程序，以产生一分析结果。若分析结果指示这些位单元中的一第一位单元失效，控制电路控制一数据写入至少一个第一寄存器，以及控制数据从至少一个第一寄存器读出，以完成一修复程序。

本公开的一些实施方式是关于一种存储器装置。存储器装置包含一存储器电路、一分析电路以及一控制电路。存储器电路包含多个位单元。分析电路被配置为分析这些位单元以产生一分析结果。若分析结果指示这些位单元中的一第一位单元失效，控制电路调整存储器装置的一操作电压以产生一调整操作电压，且存储器装置依据调整操作电压运作。

综上所述，本公开的存储器装置具有较佳的修复机制，可提升整体良率。

附图说明

为让本公开的上述和其他目的、特征、优点与实施例能够更明显易懂，附图的说明如下：

图1是依照本公开一些实施例所绘示的一存储器装置的示意图；

图2是依照本公开一些实施例所绘示的一存储器装置的示意图；

图3是依照本公开一些实施例所绘示的一存储器装置的示意图；

以及

图4是依照本公开一些实施例所绘示的一存储器装置的示意图。

具体实施方式

本文所使用的所有词汇具有其通常的意涵。上述词汇在普遍常用的字典中的定义，在本公开的内容中包含任一于此讨论的词汇的使用例子仅为示例，不应限制到本公开的范围与意涵。同样地，本公开亦不仅以于此说明书所示出的各种实施例为限。

本文所使用的用词“耦合”亦可指“电性耦合”，且用词“连接”亦可指“电性连接”。“耦合”及“连接”亦可指二个或多个组件相互配合或相互互动。

参考图1。图1是依照本公开一些实施例所绘示的存储器装置100的示意图。以图1标例而言，存储器装置100包含存储器电路120、分析电路130、控制电路140、选择电路150以及寄存器REG2。存储器装置100还包含寄存器REG[1]-REG[N]，其中N为等于或大于1的正整数。

存储器电路120耦合到分析电路130、控制电路140以及选择电路150。分析电路130耦合到控制电路140。控制电路140耦合到选择电路150、寄存器REG[1]-REG[N]以及寄存器REG2。寄存器REG[1]-REG[N]耦合到选择电路150。

存储器电路120包含多个位单元(bit cell)BC。位单元亦可称为存储器单元。在这个例子中，存储器电路120包含8192×64个位单元BC。也就是说，这些位单元BC排列成8192行(row)以及64列(column)的数组型式。上述关于存储器电路120中位单元BC的数量仅用于示例，各种适用的数量皆在本公开所涵盖的范围内。