[发明专利]一种基于热重变化测量磁性纳米颗粒居里温度的方法在审

专利信息
申请号: 202010452523.5 申请日: 2020-05-26
公开(公告)号: CN111504494A 公开(公告)日: 2020-08-07
发明(设计)人: 张伟;余小刚;吴承伟 申请(专利权)人: 大连理工大学
主分类号: G01K7/36 分类号: G01K7/36
代理公司: 大连理工大学专利中心 21200 代理人: 李晓亮;潘迅
地址: 116024 辽*** 国省代码: 辽宁;21
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摘要:
搜索关键词: 一种 基于 变化 测量 磁性 纳米 颗粒 居里 温度 方法
【权利要求书】:

1.一种基于热重变化测量磁性纳米颗粒居里温度的方法,其特征在于,包括以下步骤:

第一步,将待测磁性纳米颗粒采用玛瑙研钵充分研磨,得到测试样品;

第二步,调零

将加盖的空坩埚放置于热重分析仪的天平上,并在天平的正上方放置磁铁1以提供测量所需的静磁场;待天平示数稳定后,设置清零,将天平示数调整为零,消除系统误差;

第三步,测量

将第一步称取的测试样品加入坩埚中,盖上坩埚盖后放置到天平上,升温速度设定为1-5℃/min,通入保护气体后即可开始加热,并记录并绘制测试磁性纳米颗粒的m~T曲线;所述的绘制m~T曲线的具体步骤如下:

在磁场的作用下,装载在热重分析仪天平上的纳米颗粒受到磁场力的作用使得天平的视重小于纳米颗粒的实际质量;随着温度的增加,磁性纳米颗粒的磁化强度减小,受到磁场的作用力减小,从而使得天平视重逐渐增加,当温度升高到使全部磁性纳米颗粒都转变成顺磁性的时候,磁性纳米颗粒受到的磁场作用力近似为零,此时天平的视重等于纳米颗粒的实际质量,不再随温度的升高而变化,由此得到磁性纳米颗粒的m~T曲线;

第四步,数据处理

将第三步中得到的样品的m~T曲线求一阶导,确定其斜率最大位置,然后过该点做切线,该切线与曲线平衡时反向延长线的交点即为样品的居里温度。

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