[发明专利]电路检测方法和数据检测电路在审
申请号: | 202010455249.7 | 申请日: | 2020-05-26 |
公开(公告)号: | CN111613264A | 公开(公告)日: | 2020-09-01 |
发明(设计)人: | 周奕;谭洪贺;陈小桥;孙晨;李文星;李晶;张露阳 | 申请(专利权)人: | 地平线(上海)人工智能技术有限公司 |
主分类号: | G11C29/56 | 分类号: | G11C29/56 |
代理公司: | 北京思源智汇知识产权代理有限公司 11657 | 代理人: | 毛丽琴 |
地址: | 201306 上海市浦东*** | 国省代码: | 上海;31 |
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摘要: | |||
搜索关键词: | 电路 检测 方法 数据 | ||
1.一种电路检测方法,包括:
若当前时间点达到预设的检测时间周期,基于被检测模块的数据存储地址,从所述数据存储地址对应的存储区中读取所述被检测模块对应的待检测数据;
利用与所述被检测模块对应的预设计算方式,对所述待检测数据进行运算,得到第一运算结果;
基于所述第一运算结果与所述数据存储地址对应的预设运算结果,确定所述被检测模块的故障状态。
2.根据权利要求1所述的方法,其中,所述利用与所述被检测模块对应的预设计算方式,对所述待检测数据进行运算,得到第一运算结果,包括:
确定所述被检测模块的类型;
基于所述被检测模块的类型确定所述被检测模块对应的预设计算方式;
基于所述预设计算方式对所述待检测数据进行运算,得到第一运算结果。
3.根据权利要求1所述的方法,其中,所述方法还包括:
确定当前用于记录所述检测时间周期的计数值与预设计数值之间的大小关系;
若所述大小关系表示所述计数值与所述预设计数值相同,确定所述当前时间点达到所述检测时间周期。
4.根据权利要求1所述的方法,其中,所述基于被检测模块的数据存储地址,从所述存储地址对应的存储区中读取所述被检测模块对应的待检测数据,包括:
确定所述被检测模块对应的数据存储地址列表;
依次从所述存储地址列表中的每个存储地址对应的存储区中读取待检测数据。
5.一种数据检测电路,包括:数据检测模块、被检测模块,其中,所述数据检测模块用于:
若当前时间点达到预设的检测时间周期,基于所述被检测模块的数据存储地址,从所述被检测模块中读取待检测数据;
利用与所述被检测模块对应的预设计算方式,对所述待检测数据进行运算,得到第一运算结果;
基于所述第一运算结果与所述数据存储地址对应的预设运算结果,确定所述被检测模块的故障状态。
6.根据权利要求5所述的电路,其中,所述数据检测模块包括定时器、计算单元、数据定位单元;
所述定时器用于设置所述数据检测模块的检测时间周期并计时,当计时时间达到所述检测时间周期时,输出用于指示所述计算单元进行数据检测的检测信号;
所述数据定位单元用于设置待检测数据的数据存储地址;
所述计算单元用于当检测到所述检测信号时,基于所述数据存储地址,从所述被检测模块中读取待检测数据;利用与所述被检测模块对应的预设计算方式,对所述待检测数据进行运算,得到第一运算结果;基于所述第一运算结果与所述数据存储地址对应的预设运算结果,确定所述被检测模块的故障状态。
7.根据权利要求6所述的电路,其中,所述计算单元包括预设运算结果寄存器组、算法子单元、运算结果比较器,其中,
所述算法子单元用于当检测到所述检测信号时,从所述数据定位单元获取数据存储地址,根据所述数据存储地址从所述被检测模块提取待检测数据,利用与所述被检测模块对应的预设计算方式,对所述待检测数据进行运算,得到第一运算结果;
所述预设运算结果选择子单元用于选择与所述数据存储地址对应的预设运算结果;
所述运算结果比较器用于基于所述第一运算结果与所述预设运算结果,确定所述被检测模块的故障状态。
8.根据权利要求7所述的电路,其中,所述数据定位单元包括数据存储地址列表,所述算法子单元还用于根据所述数据存储地址列表,从所述被检测模块中的与所述存储地址列表中的每个存储地址对应的存储区中读取待检测数据。
9.根据权利要求5-8之一所述的电路,其中,所述被检测模块包括以下至少一种:寄存器、内部存储器和外部存储器。
10.一种电子设备,所述电子设备包括:
数据检测模块、被检测模块、用于存储所述处理器可执行指令的存储器;
所述数据检测模块,用于从所述存储器中读取所述可执行指令,并执行所述指令以实现上述权利要求1-4任一所述的方法。
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