[发明专利]电路检测方法和数据检测电路

说明书

本公开实施例公开了一种电路检测方法和数据检测电路，其中，该电路检测方法包括：若当前时间点达到预设的检测时间周期，基于被检测模块的数据存储地址，从数据存储地址对应的存储区中读取被检测模块对应的待检测数据；利用与被检测模块对应的预设计算方式，对待检测数据进行运算，得到第一运算结果；基于第一运算结果与数据存储地址对应的预设运算结果，确定被检测模块的故障状态。本公开实施例可以及时、准确地对存储电路进行检测，无需通过增加硬件的方式进行数据校验，节约了系统占用的空间，降低了功耗。

技术领域

本公开涉及电子电路技术领域，尤其是一种电路检测方法和数据检测电路。

背景技术

目前的片上系统设计中，时钟系统非常复杂，导致系统的存储器、寄存器中的数据的完整性受影响。根据功能安全的要求，需要保证系统存储内容的完整性，系统寄存器配置的完整性。存储器和寄存器通常可以采用ECC、Parity等方法进行校验。

发明内容

本公开的实施例提供了一种电路检测方法和数据检测电路及电子设备。

本公开的实施例提供了一种电路检测方法，该方法包括：若当前时间点达到预设的检测时间周期，基于被检测模块的数据存储地址，从数据存储地址对应的存储区中读取被检测模块对应的待检测数据；利用与被检测模块对应的预设计算方式，对待检测数据进行运算，得到第一运算结果；基于第一运算结果与数据存储地址对应的预设运算结果，确定被检测模块的故障状态。

根据本公开实施例的另一个方面，提供了一种数据检测电路，该数据检测电路包括：数据检测模块、被检测模块，其中，数据检测模块用于：若当前时间点达到预设的检测时间周期，基于被检测模块的数据存储地址，从被检测模块中读取待检测数据；利用与被检测模块对应的预设计算方式，对待检测数据进行运算，得到第一运算结果；基于第一运算结果与数据存储地址对应的预设运算结果，确定被检测模块的故障状态。

根据本公开实施例的另一个方面，提供了一种电子设备，电子设备包括：数据检测模块、被检测模块、用于存储处理器可执行指令的存储器；数据检测模块，用于从存储器中读取可执行指令，并执行指令以实现上述电路检测方法。

基于本公开上述实施例提供的电路检测方法和数据检测电路及电子设备，通过定时地从被检测模块的数据存储地址对应的存储区中读取待检测数据，再利用与被检测模块对应的预设计算方式，对待检测数据进行运算，得到第一运算结果，最后比较第一运算结果与数据存储地址对应的预设运算结果，确定被检测模块的故障状态，由于通过与预设计算方式得到的第一运算结果来确定待检测数据故障状态，因此无需通过增加硬件的方式进行数据校验，节约了片上系统占用的空间，并且还能大大降低片上系统的功耗；此外，由于被检测模块的数据存储地址对应的存储区中的待检测数据是定时地被读取，并且待检测数据能够准确地表示被检测模块的真实信息，因此本公开可以及时、准确地对被检测模块进行检测，进而可满足功能安全的要求，并且能够确保关于被检测模块的存储数据的完整性。

下面通过附图和实施例，对本公开的技术方案做进一步的详细描述。

附图说明

通过结合附图对本公开实施例进行更详细的描述，本公开的上述以及其他目的、特征和优势将变得更加明显。附图用来提供对本公开实施例的进一步理解，并且构成说明书的一部分，与本公开实施例一起用于解释本公开，并不构成对本公开的限制。在附图中，相同的参考标号通常代表相同部件或步骤。

图1是本公开一示例性实施例提供的数据检测电路的示例性结构图。

图2是本公开另一示例性实施例提供的数据检测电路的示例性结构图。

图3是本公开的实施例的数据检测电路的从预设运算结果选择子单元选择预设运算结果的示意图。

图4是本公开的实施例的数据检测电路的定时器的示例性结构图。