[发明专利]一种在保留原样本分布特征的数据扩大方法

权利要求书

1.一种在保留原样本分布特征的数据扩大方法,该方法包括:

步骤1：获取辐照应力环境下微芯片电压数据，根据辐照应力环境下微芯片的电气特性确定出数据失效阈值；

步骤2：根据步骤1确定的数据失效阈值，对步骤1获取的辐照应力环境下微芯片电压数据进行筛选；

步骤3：通过步骤2筛选后得到有限个数据样本集合H，将H中所有有限的数据按照范围分布特征进行扩大样本数据至N；

所述步骤3的具体方法为：

步骤3.1：有限个数据样本集合H，将数据进行从小到大排列，排列后集合是为：H₀＝{a₀,a₁,...a_n,a_n+1|n＞0}；其中，(a₀,...a_n+1)表示子样本数据；

步骤3.2：根据步骤3.1所述集合H₀，将H₀中子样本作差：

d₁＝a₁-a₀；d₂＝a₂-a₁；...d_n+1＝a_n+1-a_n

由此d_i计算公式，表示为d_i＝a_i-a_i-1，1≤i≤n+1；

步骤3.3：根据步骤3.2的结果，计算出落入每个范围区间段概率P_i：

P_i＝W_i/∑W

其中，

∑W＝W₁+W₂+W₃+...+W_n+1，W_i＝D/d_i

其中，

D＝∑d＝d₁+d₂+d₃+...+d_n+1；

步骤3.4：根据步骤3.3的区间段概率将样本数据集合H₀分成对应的概率样本区间集合Q，Q＝{(0,P₁),(P₁,P₂),(P₂,P₃),...,(P_n,P_n+1)}；

步骤3.5：在(0,1)范围内产生随机数Y₁；

如果Y₁∈(0,P₁)，那么在H₀的(0,a₁)子样本区间中产生X₁∈(0,a₁)；

如果Y₁∈(P₁,P₂)，那么在H₀的(a₁,a₂)子样本区间中产生X₂∈(a₁,a₂)；

……

如果Y₁∈(P_n,P_n+1)，那么在H₀的(a_n,a_n+1)子样本区间中产生X_N∈(a_n,a_n+1)；

根据步骤3.5的方法，重复在(0,1)范围内产生随机数Y₂，Y₃……，直至扩大样本数据至N。