[发明专利]一种在保留原样本分布特征的数据扩大方法

说明书

该发明公开了一种在保留原样本分布特征的数据扩大方法，属于微系统板电源与电气系统技术领域。本发明克服了微系统电源板试验数据量小、拟合处理方法少的问题。针对原始数据样本的分布特征进行了有效保留与提取，并对核辐照应力下的微系统电源板变化情况进行拟合，能够作为有效的、直观的核辐照应力下的微系统电源板变化分析依据，较好的提供了统计学处理方法。

技术领域

本发明属于微系统板电源与电气系统技术领域，特别涉及在基于原始数据分布特征的条件下，核辐照应力结果数据量样本的扩大与处理算法。

背景技术

随着电力电子技术的迅速发展，典型电路板已经被广泛地运用到家用电器、交通工具、军舰船舶、航空航天领域等，给无数领域带来了便捷，起到了巨大的作用，典型电路板是电子设备系统正常运行的必备条件，包含CPU板等在内的控制器件作为电子电路的核心，其工作的性能将会决定整个线性电源的使用性能。

在不同应力条件下的微系统电源板变化情况不同，在不同环境下的使用寿命等参数不同，现有方法主要解决在常见应力例如高温度、高湿度和强电流等环境下的电源板的变化处理方法，而对于核辐照环境下的研究较少。

现有传统的针对小样本量扩大的方法主要有Bootstap重抽样等数理统计方法，其原理是采用重复抽样技术从原始样本中抽取一定数量，并通过方差的估计可以构造置信区间等，重抽样的应用范围得到进一步延伸，它是一种处理原始数据值的重采样的方法，进而来估计真实分布的方法，但对于样本量分布特征的考虑较少，许多现有传统的统计学方法几乎都忽视了这个问题。

发明内容

本发明针对背景技术的不足，解决保留了原始数据的分布特征的前提下，在辐照环境中，微系统电源板试验数据结果量少的问题，有效的扩大并处理了原始样本量数据。

本发明的技术方案是：一种在保留原样本分布特征的数据扩大方法，该方法包括：

步骤1：获取辐照应力环境下微芯片电压数据，根据辐照应力环境下微芯片的电气特性确定出数据失效阈值；

步骤2：根据步骤1确定的数据失效阈值，对步骤1获取的辐照应力环境下微芯片电压数据进行筛选；

步骤3：通过步骤2筛选后得到有限个数据样本集合H，将H中所有有限的数据按照范围分布特征进行扩大样本数据至N。

进一步的，所述步骤3的具体方法为：

步骤3.1：有限个数据样本集合H，将数据进行从小到大排列，排列后集合是为：H₀＝{a₀，a₁，...a_n，a_n+1|n＞0}；其中，(a₀，...a_n+1)表示子样本数据；

步骤3.2：根据步骤3.1所述集合H₀，将H₀中子样本作差：

d₁＝a₁-a₀；d₂＝a₂-a₁；...d_n+1＝a_n+1-a_n

由此d_i计算公式，表示为d_i＝a_i-a_i-1，1≤i≤n+1；

步骤3.3：根据步骤3.2的结果，计算出落入每个范围区间段概率P_i：

P_i＝W_i/∑W

其中，