[发明专利]一种IC封装装片工艺中框架状态管理方法和系统在审
申请号: | 202010462100.1 | 申请日: | 2020-05-27 |
公开(公告)号: | CN111653505A | 公开(公告)日: | 2020-09-11 |
发明(设计)人: | 徐祖峰;丁小果;刘静 | 申请(专利权)人: | 南京泰治自动化技术有限公司 |
主分类号: | H01L21/67 | 分类号: | H01L21/67;G06K7/14 |
代理公司: | 南京苏高专利商标事务所(普通合伙) 32204 | 代理人: | 常虹 |
地址: | 210012 江苏省南京市雨花*** | 国省代码: | 江苏;32 |
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摘要: | |||
搜索关键词: | 一种 ic 封装 工艺 框架 状态 管理 方法 系统 | ||
本发明公开了一种IC封装装片工艺中框架状态管理方法和系统,其中管理方法包括:装片机台作业前:确定工序并保存;确定批次号,在所有框架上打上二维码;建立工序、批次号和框架上二维码的绑定关系;装片机台扫描框架上的二维码,获取当前工序;确认当前工序所需机型为装片机台,获取当前框架的状态数据;装片机台进行作业;装片机台作业后,生成框架中所有产品的状态数据;再次获取当前工序;确认当前工序所需机型为装片机台;确认作业前后获取的当前工序是否一致,如不一致,则当前框架有提前过账;如一致,修改当前框架状态数据中的产品状态数据,并修改当前框架作业状态为当前工序已完成。该方法能够对装片工艺中的提前出账进行卡控,以及实现产品的追溯。
技术领域
本发明本发明属于工业自动化领域,具体涉及一种在IC封装装片工艺中管理基板框架状态的方法和系统。
背景技术
随着工业4.0趋于成熟,以及半导体封装产业的质量需求,需要减少机台作业过程中人为造成的账料不符,和IC封装产品的作业过程可追溯,从而要求自动化软件的辅助和卡控。目前半导体封装产业的IC封装装片工艺中涉及框架的作业过程主要有2种,机台进料和机台出料。机台进料这一过程由于没有任何的卡控,很容易导致物料作业时,账料不符,即系统中状态为装片,但产品已经被转移到其他站别,这很容易造成物料的混乱。而作业完成后,框架状态更新如果由人工进行手动表识,这样就有了人为造成错误的不可控性,且影响了后续产品的追溯性。
例如某工厂在进行IC封装作业时,同一批次的物料有十条框架在当前装片机台上作业,但是作业5条后,产线的基础操作人员就将这五条框架转移至烤箱进行烘烤;由于这5条框架的物料已出站到烘烤了,从而导致后续5条框架在装片作业完成后会出现漏烘烤。或者同一批次物料在装片1站作业,但是还没全部作业完,基础操作人员已经将这批料放到装片2站去作业,出现了提前过账的问题,导致后续刚作业完的装片1站的物料直接跳过了装片2站,从而造成漏作业情况。
发明内容
发明目的:本发明旨在提供一种IC封装装片机台自动化作业过程中对框架状态进行管理的方法,该方法能够对装片工艺中的提前出账进行卡控,以及实现产品的追溯。
技术方案:本发明一方面公开了一种IC封装装片工艺中框架状态管理方法,包括:
(1)装片机台作业前:确定IC封装作业的工序,并保存在MES中;
确定批次号,将所述批次号下的所有框架通过打标机在框架上打上二维码;建立工序、批次号和框架上二维码的绑定关系;
装片机台扫描框架上的二维码,根据绑定关系从MES中获取当前工序currentStep_0;
确认currentStep_0所需机型为装片机台,获取当前框架的状态数据StripMap,所述StripMap中包含框架上的二维码信息StripID、框架中所有产品的状态数据BinCode_0和框架作业状态;
装片机台进行作业;
(2)装片机台作业后,根据框架中所有产品的状态生成状态数据BinCode_1;
再次根据框架上二维码和绑定关系获取MES中的当前工序currentStep_1;
确认currentStep_1所需机型为装片机台;
确认currentStep_1与currentStep_0是否一致,如不一致,则当前框架有提前过账;如一致,根据装片作业前后框架中产品状态数据BinCode_0、BinCode_1和当前机台类型,修改当前框架状态数据StripMap中的产品状态数据,并修改当前框架作业状态为当前工序currentStep_1已完成。
另一方面,本发明公开了实现上述方法的IC封装装片工艺中框架状态管理系统,包括:
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H01L 半导体器件;其他类目中不包括的电固体器件
H01L21-00 专门适用于制造或处理半导体或固体器件或其部件的方法或设备
H01L21-02 .半导体器件或其部件的制造或处理
H01L21-64 .非专门适用于包含在H01L 31/00至H01L 51/00各组的单个器件所使用的除半导体器件之外的固体器件或其部件的制造或处理
H01L21-66 .在制造或处理过程中的测试或测量
H01L21-67 .专门适用于在制造或处理过程中处理半导体或电固体器件的装置;专门适合于在半导体或电固体器件或部件的制造或处理过程中处理晶片的装置
H01L21-70 .由在一共用基片内或其上形成的多个固态组件或集成电路组成的器件或其部件的制造或处理;集成电路器件或其特殊部件的制造