[发明专利]一种屏幕缺陷检测方法、装置及头戴显示设备有效

专利信息
申请号: 202010462593.9 申请日: 2020-05-27
公开(公告)号: CN111612781B 公开(公告)日: 2023-07-14
发明(设计)人: 宋秀峰;田继锋;张一凡 申请(专利权)人: 歌尔光学科技有限公司
主分类号: G06T7/00 分类号: G06T7/00;G06T7/13
代理公司: 北京市隆安律师事务所 11323 代理人: 权鲜枝;赵美林
地址: 261061 山东省潍坊市高新区清池街*** 国省代码: 山东;37
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摘要:
搜索关键词: 一种 屏幕 缺陷 检测 方法 装置 显示 设备
【权利要求书】:

1.一种屏幕缺陷检测方法,其特征在于,包括:

获取待检测屏幕的原始图像;

去除原始图像中的干扰信息,得到检测图像;

为所述检测图像的中心区域选取对应的第一算法,为所述检测图像的边缘区域选取对应的第二算法,利用第一算法检测出位于中心区域的第一疑似缺陷点,以及利用第二算法检测出位于边缘区域的第二疑似缺陷点;

判定所述第一疑似缺陷点是否属于中心缺陷点,判定所述第二疑似缺陷点是否属于边缘缺陷点,得到检测结果,其中,

所述判定所述第一疑似缺陷点是否属于中心缺陷点,判定所述第二疑似缺陷点是否属于边缘缺陷点,得到检测结果包括:

根据所述第二疑似缺陷点所在目标像素区域内各像素点的灰度值以及目标像素区域的灰度均值,确定目标像素区域内各像素点的对比度,根据目标像素区域内各像素点的对比度判定所述第二疑似缺陷点是否属于边缘缺陷点,其中,

从所述第二疑似缺陷点所在的分块区域内选取与当前处理的第二疑似缺陷点距离在预设距离阈值范围内的一个邻近的第二疑似缺陷点,将当前处理的第二疑似缺陷点以及邻近的第二疑似缺陷点共同作为基准点;

根据所述基准点的水平方向或者垂直方向的差值,确定像素区域大小,以所述第二疑似缺陷点为中心,并按照所述像素区域大小确定目标像素区域;

由目标像素区域内各像素点的灰度值,得到目标像素区域的灰度均值;

基于所述目标像素区域的灰度均值以及目标像素区域内各像素点的灰度值,得到目标像素区域内各像素点的对比度;

统计对比度小于当前分块区域对应的预设对比度阈值的目标像素点个数;

如果目标像素点个数大于预设数量阈值,则判定所述第二疑似缺陷点为边缘缺陷点。

2.如权利要求1所述的方法,其特征在于,所述检测图像中包含屏幕轮廓,

在利用第二算法检测出位于边缘区域的第二疑似缺陷点之前,根据屏幕轮廓的形状,对边缘区域进行分块,得到各分块区域;

则所述方法还包括:

在各分块区域内,利用第二算法提取关键点,并根据关键点与相对应屏幕轮廓的距离检测出第二疑似缺陷点;

在各分块区域内,判定所述第二疑似缺陷点是否属于边缘缺陷点;

其中,每个分块区域采用的判定参数不相同,或者,对分块区域进行归类,不同类分块区域采用的判定参数不相同,判定参数包括第二疑似缺陷点所在的目标像素区域,以及用于判定目标像素区域内各像素点的阈值。

3.如权利要求1所述的方法,其特征在于,根据灰度特点判定所述第一疑似缺陷点或第二疑似缺陷点是否属于中心缺陷点或边缘缺陷点;

所述判定所述第一疑似缺陷点是否属于中心缺陷点,判定所述第二疑似缺陷点是否属于边缘缺陷点,得到检测结果还包括:

根据所述第一疑似缺陷点所在目标像素区域内各像素点的灰度值以及目标像素区域的灰度均值,确定目标像素区域内各像素点的对比度,根据目标像素区域内各像素点的对比度判定所述第一疑似缺陷点是否属于中心缺陷点。

4.如权利要求2所述的方法,其特征在于,所述根据屏幕轮廓的形状,对边缘区域进行分块包括:

根据屏幕轮廓的形状,确定所述屏幕轮廓的最大内接矩形的位置;

将包括所述最大内接矩形的左边以外且所述屏幕轮廓以内的区域划分为第一分块区域,将包括所述最大内接矩形的右边以外且所述屏幕轮廓以内的区域划分为第二分块区域,将包括所述最大内接矩形的上边以外且所述屏幕轮廓以内的区域划分为第三分块区域,将包括所述最大内接矩形的下边以外且所述屏幕轮廓以内的区域划分为第四分块区域;

利用特征点检测算法,分别检测所述第一分块区域,所述第二分块区域,所述第三分块区域以及所述第四分块区域中的第二疑似缺陷点。

5.如权利要求1所述的方法,其特征在于,所述去除原始图像中的干扰信息,得到检测图像包括:

将所述原始图像通过自适应的二值化阈值,转换为二值图像;

在所述二值图像上进行屏幕轮廓查找,根据查找到的屏幕轮廓在原始图像上对应绘制屏幕轮廓,并确定屏幕轮廓的最小外接矩形;

基于所述最小外接矩形确定所述原始图像上的有效区域,提取有效区域得到所述检测图像。

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