[发明专利]一种屏幕缺陷检测方法、装置及头戴显示设备

说明书

本申请公开了一种屏幕缺陷检测方法、装置及头戴显示设备。屏幕缺陷检测方法包括：获取待检测屏幕的原始图像；去除原始图像中的干扰信息，得到检测图像；为检测图像的中心区域选取对应的第一算法，为检测图像的边缘区域选取对应的第二算法，利用第一算法检测出位于中心区域的第一疑似缺陷点，以及利用第二算法检测出位于边缘区域的第二疑似缺陷点；判定第一疑似缺陷点是否属于中心缺陷点，判定第二疑似缺陷点是否属于边缘缺陷点，得到检测结果。本申请实施例提高了检测效率，增强了检测的自适应能力，又能减少误检的发生，保证了屏幕检测方案的准确性，满足了实际应用需求，提高了头戴显示设备的市场竞争力。

技术领域

本申请涉及头戴显示设备技术领域，具体涉及一种屏幕缺陷检测方法、装置及头戴显示设备。

背景技术

近年来头戴显示设备，比如VR(Virtual Reality，虚拟现实)产品火爆，根据市场预测，下一代VR将采用OLED(Organic Light-Emitting Diode，有机发光半导体)屏。为保证VR产品能得到较广泛的应用且用户体验较好，那么VR屏幕必须能达到较好的分辨率，而且不能存在坏点以及脏污，因此产品检测是必不可少的工序。

现阶段VR的OLED显示屏的检测存在下列技术问题：一方面，由于边缘图像的畸变，难以分辨边缘黑线、边缘划痕等边缘缺陷，另一方面，误检率、漏检率较高。

发明内容

鉴于上述技术问题，提出了本申请以便提供克服上述技术问题或者至少部分地解决上述技术问题的一种屏幕缺陷检测方法、装置及头戴显示设备。

依据本申请的一个方面，提供了一种屏幕缺陷检测方法，包括：

获取待检测屏幕的原始图像；

去除原始图像中的干扰信息，得到检测图像；

为检测图像的中心区域选取对应的第一算法，为检测图像的边缘区域选取对应的第二算法，利用第一算法检测出位于中心区域的第一疑似缺陷点，以及利用第二算法检测出位于边缘区域的第二疑似缺陷点；

判定第一疑似缺陷点是否属于中心缺陷点，判定第二疑似缺陷点是否属于边缘缺陷点，得到检测结果。

依据本申请的另一个方面，提供了一种屏幕缺陷检测装置，包括：

图像获取单元，用于获取待检测屏幕的原始图像；

图像处理单元，用于去除原始图像中的干扰信息，得到检测图像；

检测单元，用于为检测图像的中心区域选取对应的第一算法，为检测图像的边缘区域选取对应的第二算法，利用第一算法检测出位于中心区域的第一疑似缺陷点，以及利用第二算法检测出位于边缘区域的第二疑似缺陷点；

缺陷判定单元，用于判定第一疑似缺陷点是否属于中心缺陷点，判定第二疑似缺陷点是否属于边缘缺陷点，得到检测结果。

依据本申请的又一个方面，提供了一种头戴显示设备，头戴显示设备包括如本申请另一个方面的屏幕缺陷检测装置。

由上述可知，本申请的技术方案，获取待检测屏幕的原始图像，去除原始图像中的干扰信息，得到检测图像，去除干扰信息有利于提高检测的准确性并提高检测的效率。为检测图像的中心区域选取对应的第一算法，为检测图像的边缘区域选取对应的第二算法，利用第一算法检测出位于中心区域的第一疑似缺陷点，以及利用第二算法检测出位于边缘区域的第二疑似缺陷点；这样，对检测图像的中心区域和边缘区域选取不同的算法进行疑似缺陷检测，既减少了工程耗时，增强了检测的自适应能力，又能减少误检、漏检的发生，保证检测的准确。最后，判定第一疑似缺陷点是否属于中心缺陷点，判定第二疑似缺陷点是否属于边缘缺陷点得到检测结果，进一步提高了本申请屏幕检测方案的准确性，满足了实际应用需求，提高了头戴显示设备的市场竞争力。

附图说明