[发明专利]基于辐照器系统的检测方法在审
申请号: | 202010463711.8 | 申请日: | 2020-05-27 |
公开(公告)号: | CN111551980A | 公开(公告)日: | 2020-08-18 |
发明(设计)人: | 金孙均;王坤;杨小元;王志鹏 | 申请(专利权)人: | 中国计量科学研究院 |
主分类号: | G01T1/185 | 分类号: | G01T1/185;G01T7/00 |
代理公司: | 北京慧诚智道知识产权代理事务所(特殊普通合伙) 11539 | 代理人: | 戴燕 |
地址: | 100029 *** | 国省代码: | 北京;11 |
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摘要: | |||
搜索关键词: | 基于 辐照 系统 检测 方法 | ||
1.一种基于辐照器系统的检测方法,其特征在于,基于辐照器系统的检测方法包括:
将电离室设置于电离室调节装置上;
通过第一电机带动电离室调节装置移动,以对电离室进行调节,使得电离室处于工作位置;
当供电模块处于供电状态,且屏蔽门体结构处于打开位置时,或者,当供电模块处于断电状态时,第二电机带动转鼓组件进行转动,转鼓转动至第一位置,放射源的束流被停束;
当供电模块处于供电状态,且屏蔽门体结构处于关闭位置时,电机带动转鼓组件进行转动,使得转鼓转动至第二位置,对球面状的束流进行出束控制;
当出束时,通过主体和转鼓对球面状的束流进行第一屏蔽,再通过光阑对第一屏蔽后的束流进行第二屏蔽;
电离室接收第二屏蔽后的束流,第二屏蔽后的束流对电离室内的空气发生电离,产生电离电流;
对电离电流进行检测,得到电离电流值。
2.根据权利要求1的所述的基于辐照器系统的检测方法,其特征在于,主体由重金属复合材料制成,主体的第一端面开设有第一台阶孔,主体的第二端面开设有第二台阶孔,主体的第三端面开设有第三台阶孔,第二端面分别与第一端面和第三端面垂直,第一端面与第三端面平行,主体对放射源的杂散辐射进行第一屏蔽,并对外界的电磁干扰进行屏蔽。
3.根据权利要求1所述的基于辐照器系统的检测方法,其特征在于,转鼓组件包括转鼓、转鼓底轴和转鼓;
转鼓,呈圆柱状,束状的第二通孔设置在转鼓的侧面,转鼓的上部开设有第一螺孔,转鼓的底部开设有第二螺孔;
转鼓底轴的一端和第二螺孔螺接,转鼓底轴的另一端通过轴承轴接在第二台阶孔内;
转鼓轴的一端和第一螺孔螺接,转鼓轴的另一端设置有开关适配口,并通过开关适配口和控制模块电连接。
4.根据权利要求1所述的基于辐照器系统的检测方法,其特征在于,散射源容置于辐照器系统的源工装套筒中,源工装套筒插接在散射腔的第一通孔内。
5.根据权利要求1所述的基于辐照器系统的检测方法,其特征在于,当关闭屏蔽门体结构且供电模块处于供电状态时,第二电机带动转鼓组件进行转动,使得转鼓转动至第一位置具体包括:
当供电模块处于供电状态,且屏蔽门体结构处于打开位置时,或者,当供电模块处于断电状态时,第二电机接收到第一控制信号,并通过第一控制信号控制转鼓组件转动,从而挡住放射源的束流,进行停束控制。
6.根据权利要求3所述的基于辐照器系统的检测方法,其特征在于,当供电模块处于供电状态,且屏蔽门体结构处于关闭位置时,第二电机带动转鼓组件进行转动,使得转鼓转动至第二位置,对束流进行出束控制具体包括:
当供电模块处于供电状态,且屏蔽门体结构处于关闭位置时,第二电机接收第二控制信号,并通过第二控制信号控制转鼓组件转动,从而使得转鼓组件中的第二通孔与主体同轴,进行出束控制。
7.根据权利要求6所述的基于辐照器系统的检测方法,其特征在于,转鼓底轴在第二台阶孔内,通过圆锥滚子轴承和第二台阶孔相接,转鼓轴套设有深沟球轴承;
当第二电机通过第一控制信号或者第二控制信号转动时,圆锥滚子轴承和深沟球轴承转动,从而带动转鼓轴、转鼓底轴和转鼓转动。
8.根据权利要求3所述的基于辐照器系统的检测方法,其特征在于,辐照器系统还包括上盖组件;
上盖组件包括上盖和上盖焊接体,上盖和上盖焊接体相接后,上盖组件穿设有转鼓轴。
9.根据权利要求1所述的基于辐照器系统的检测方法,其特征在于,光阑和光阑固定筒构成光阑组件;
光阑的数量为6个,依次设置在光阑固定筒内,光阑固定筒的第一部分设置在主体的第一台阶孔内,按照放射源射出的束流的方向,六个光阑的孔径按照从大到小的顺序排列在光阑固定筒内,每个光阑的中心与放射源的中心对准。
10.根据权利要求2所述的基于辐照器系统的检测方法,其特征在于,辐照器系统还包括尾堵组件;
尾堵组件包括第一尾堵和第二尾堵;
第一尾堵,设置有弹簧组件,与源工装套筒行配合,对设置在源工装套筒中的放射源进行固定,并对放射源的杂散辐射进行屏蔽;
第二尾堵,设置在第三台阶孔内,对第一尾堵进行固定,并对透过第一尾堵的杂散辐射进行屏蔽。
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