[发明专利]基于辐照器系统的检测方法

说明书

本发明提供了一种基于辐照器系统的检测方法，包括：将电离室设置于电离室调节装置上；当供电模块处于供电状态，且屏蔽门体结构处于打开位置时，或者，当供电模块处于断电状态时，第二电机带动转鼓组件进行转动，放射源的束流被停束；当供电模块处于供电状态，且屏蔽门体结构处于关闭位置时，电机带动转鼓组件进行转动，对球面状的束流进行出束控制；当出束时，通过主体和转鼓对球面状的束流进行第一屏蔽，再通过光阑对第一屏蔽后的束流进行第二屏蔽；第二屏蔽后的束流对电离室内的空气发生电离，产生电离电流；对电离电流进行检测，得到电离电流值。由此，提高了检测的精度以及检测的可操控性。

技术领域

本发明涉及辐射测量技术领域，尤其涉及一种基于辐照器系统的检测方法。

背景技术

辐照器系统用于电离室的检定、校准及检测，因此，对于辐照器系统，一般要具有低漏辐射且便于控制的特点，在这种辐照器系统的基础上，如何进行电离室的测量，成为急需解决的问题。

发明内容

本发明实施例的目的是提供一种基于辐照器系统的检测方法，通过多维调节装置对电离室进行调节，从而提高了检测精度和检测的可操控性。

本发明提供了一种基于辐照器系统的检测方法，基于辐照器系统的检测方法包括：

将电离室设置于电离室调节装置上；

通过第一电机带动电离室调节装置移动，以对电离室进行调节，使得电离室处于工作位置；

当供电模块处于供电状态，且屏蔽门体结构处于打开位置时，或者，当供电模块处于断电状态时，第二电机带动转鼓组件进行转动，转鼓转动至第一位置，放射源的束流被停束；

当供电模块处于供电状态，且屏蔽门体结构处于关闭位置时，电机带动转鼓组件进行转动，使得转鼓转动至第二位置，对球面状的束流进行出束控制；

当出束时，通过主体和转鼓对球面状的束流进行第一屏蔽，再通过光阑对第一屏蔽后的束流进行第二屏蔽；

电离室接收第二屏蔽后的束流，第二屏蔽后的束流对电离室内的空气发生电离，产生电离电流；

对电离电流进行检测，得到电离电流值。

在一种可能的实现方式中，主体由重金属复合材料制成，主体的第一端面开设有第一台阶孔，主体的第二端面开设有第二台阶孔，主体的第三端面开设有第三台阶孔，第二端面分别与第一端面和第三端面垂直，第一端面与第三端面平行，主体对放射源的杂散辐射进行第一屏蔽，并对外界的电磁干扰进行屏蔽。

在一种可能的实现方式中，转鼓组件包括转鼓、转鼓底轴和转鼓；

转鼓，呈圆柱状，束状的第二通孔设置在转鼓的侧面，转鼓的上部开设有第一螺孔，转鼓的底部开设有第二螺孔；

转鼓底轴的一端和第二螺孔螺接，转鼓底轴的另一端通过轴承轴接在第二台阶孔内；

转鼓轴的一端和第一螺孔螺接，转鼓轴的另一端设置有开关适配口，并通过开关适配口和控制模块电连接。

在一种可能的实现方式中，散射源容置于辐照器系统的源工装套筒中，源工装套筒插接在散射腔的第一通孔内。

在一种可能的实现方式中，当关闭屏蔽门体结构且供电模块处于供电状态时，第二电机带动转鼓组件进行转动，使得转鼓转动至第一位置具体包括：

当供电模块处于供电状态，且屏蔽门体结构处于打开位置时，或者，当供电模块处于断电状态时，第二电机接收到第一控制信号，并通过第一控制信号控制转鼓组件转动，从而挡住放射源的束流，进行停束控制。

在一种可能的实现方式中，当供电模块处于供电状态，且屏蔽门体结构处于关闭位置时，第二电机带动转鼓组件进行转动，使得转鼓转动至第二位置，对束流进行出束控制具体包括：