[发明专利]物体质感测量装置在审
申请号: | 202010465959.8 | 申请日: | 2020-05-28 |
公开(公告)号: | CN112683854A | 公开(公告)日: | 2021-04-20 |
发明(设计)人: | 平松崇;桑田良隆 | 申请(专利权)人: | 富士施乐株式会社 |
主分类号: | G01N21/55 | 分类号: | G01N21/55;G01N21/47;G01N3/40;G01L5/00;G01B21/30 |
代理公司: | 北京同立钧成知识产权代理有限公司 11205 | 代理人: | 杨文娟;臧建明 |
地址: | 日本东京*** | 国省代码: | 暂无信息 |
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摘要: | |||
搜索关键词: | 物体 质感 测量 装置 | ||
1.一种物体质感测量装置,其包括:
视觉检测部,检测物体的视觉质感;
触觉检测部,检测所述物体的触觉质感;以及
获取部,在使所述视觉检测部以及所述触觉检测部分别相对于所述物体进行相对移动的同时,获取所述视觉检测部以及所述触觉检测部各自的检测结果。
2.根据权利要求1所述的物体质感测量装置,其还包括:
移动部,使所述视觉检测部以及所述触觉检测部分别相对于所述物体进行相对移动。
3.根据权利要求1或2所述的物体质感测量装置,其还包括:
检测部,检测相对于所述物体的所述视觉检测部以及所述触觉检测部各自的相对移动距离;以及
处理部,使用所述检测部的检测结果,进行使所述视觉检测部的检测结果以及所述触觉检测部的检测结果的各自的检测位置对齐的处理,
所述相对移动的方向设为预先设定的方向。
4.根据权利要求1或2所述的物体质感测量装置,其还包括:
检测部,检测相对于所述物体的所述视觉检测部以及所述触觉检测部各自的相对移动距离以及各自的移动方向;以及
处理部,使用所述检测部的检测结果,进行使所述视觉检测部的检测结果以及所述触觉检测部的检测结果的各自的检测位置对齐的处理。
5.根据权利要求1至4中任一项所述的物体质感测量装置,其中,
所述触觉检测部包括对表示所述物体的表面的触觉质感的复数种表面信息进行检测的复数种传感器。
6.根据权利要求5所述的物体质感测量装置,其中,
所述复数种传感器包括接触所述物体来检测表示所述物体的表面的触觉质感的表面信息的传感器;以及不接触所述物体而检测表示所述物体的表面的触觉质感的表面信息的传感器。
7.根据权利要求1至6中任一项所述的物体质感测量装置,其中,
所述视觉检测部通过分别检测来自于所述物体的镜面反射光以及漫反射光来检测所述视觉质感。
8.根据权利要求7所述的物体质感测量装置,其中,
所述视觉检测部包括:单一的光源,向所述物体照射光;第1摄像部,在接受从所述光源照射且在所述物体被反射的镜面反射光的位置设置并拍摄所述物体的表面;以及第2摄像部,在接受从所述光源照射且在所述物体被反射的漫反射光的位置设置并拍摄所述物体的表面。
9.根据权利要求7所述的物体质感测量装置,其中,
所述视觉检测部包括:单一的摄像部,在接受来自于物体的反射光的位置设置并拍摄所述物体的表面;第1光源,在相对于所述摄像部入射来自于所述物体的镜面反射光的位置设置并向所述物体照射光;以及第2光源,在相对于所述摄像部入射来自于所述物体的漫反射光的位置设置并向所述物体照射光。
10.一种物体质感测量装置,其具备处理器,所述处理器进行如下处理:
检测物体的视觉质感的第1处理、检测所述物体的触觉质感的第2处理以及使通过所述第1处理检测出的所述视觉质感的检测结果及通过所述第2处理检测出的所述触觉质感的检测结果各自的检测位置对齐的第3处理。
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