[发明专利]电压采样芯片供电地断线故障诊断方法、装置及设备有效

专利信息
申请号: 202010468301.2 申请日: 2020-05-28
公开(公告)号: CN111537916B 公开(公告)日: 2022-09-30
发明(设计)人: 康兵;陈刚;邓文超;何翔宇;马立克 申请(专利权)人: 上海金脉汽车电子有限公司
主分类号: G01R31/54 分类号: G01R31/54
代理公司: 北京品源专利代理有限公司 11332 代理人: 孟金喆
地址: 201114 上海市闵*** 国省代码: 上海;31
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摘要:
搜索关键词: 电压 采样 芯片 供电 断线 故障诊断 方法 装置 设备
【权利要求书】:

1.一种电压采样芯片供电地断线故障诊断方法,应用于电池管理系统中电压采样芯片供电地断线故障诊断,所述电池管理系统包括供电电源、电压采样芯片及主控制模块;所述供电电源包括至少一节单体电芯和至少两条单体电芯采样线,所述单体电芯与所述电压采样芯片通过所述单体电芯采样线电连接;其特征在于,所述电压采样芯片供电地断线故障诊断方法包括:

获取所述电压采样芯片的供电电压回落信号;

获取所述供电电源中第一节单体电芯的电压信号;

根据所述供电电压回落信号和所述第一节单体电芯的电压信号,诊断所述电压采样芯片是否存在供电地断线故障;

其中,所述电压采样芯片中第一单体电芯的采样电压引脚PIN与所述电压采样芯片内部的对应采样线电连接,所述电压采样芯片中供电地引脚GND与所述电压采样芯片内部的对应供电地采样线电连接,所述电压采样芯片中的所述第一单体电芯采样电压引脚PIN对应的所述电压采样芯片内部的采样线与所述供电地引脚对应所述电压采样芯片内部的供电地采样线之间串联有二极管。

2.根据权利要求1所述的电压采样芯片供电地断线故障诊断方法,其特征在于,所述获取所述电压采样芯片的供电电压回落信号包括:

获取所述电压采样芯片的第一供电电压信号;

获取所述电压采样芯片的第二供电电压信号;

根据所述第一供电电压信号与所述第二供电电压信号计算所述电压采样芯片的供电电压回落信号。

3.根据权利要求1所述的电压采样芯片供电地断线故障诊断方法,其特征在于,所述根据所述供电电压回落信号和所述第一节单体电芯的电压信号,诊断所述电压采样芯片存在供电地断线故障包括:

当所述供电电压回落信号大于第一预设电压差阈值,且所述第一节单体电芯的电压信号小于第二预设电压阈值时,则诊断所述电压采样芯片存在供电地断线故障。

4.根据权利要求1所述的电压采样芯片供电地断线故障诊断方法,其特征在于,所述电压采样芯片供电地断线故障诊断方法还包括:

判断所述单体电芯采样线是否存在断线故障,并给出采样线断线判断结果;

根据所述供电电压回落信号和所述第一节单体电芯的电压信号,诊断所述电压采样芯片是否存在供电地断线故障,包括

根据所述供电电压回落信号、所述第一节单体电芯的电压信号以及所述采样线断线判断结果,诊断所述电压采样芯片是否存在供电地断线故障。

5.根据权利要求4所述的电压采样芯片供电地断线故障诊断方法,其特征在于,根据所述供电电压回落信号、所述第一节单体电芯的电压信号以及所述采样线断线判断结果,诊断所述电压采样芯片是否存在供电地断线故障,包括:

当所述供电电压回落信号大于第一预设电压差阈值、所述第一节单体电芯的电压信号小于第二预设电压阈值以及所述采样线断线判断结果为所述单体电芯采样线不存在断线故障时,则诊断所述电压采样芯片存在供电地断线故障。

6.根据权利要求1-5任一项所述的电压采样芯片供电地断线故障诊断方法,其特征在于,获取所述电压采样芯片的供电电压回落信号之前,还包括:

控制所述电池管理系统上电。

7.一种电压采样芯片供电地断线故障诊断装置,其特征在于,包括:

供电电压回落信号获取模块,用于获取电压采样芯片的供电电压回落信号;

电压信号获取模块,用于获取供电电源中第一节单体电芯的电压信号;

供电地断线故障诊断模块,用于根据所述供电电压回落信号和所述第一节单体电芯的电压信号,诊断所述电压采样芯片是否存在供电地断线故障;

其中,所述电压采样芯片中第一单体电芯的采样电压引脚PIN与所述电压采样芯片内部的对应采样线电连接,所述电压采样芯片中供电地引脚GND与所述电压采样芯片内部的对应供电地采样线电连接,所述电压采样芯片中的所述第一单体电芯采样电压引脚PIN对应的所述电压采样芯片内部的采样线与所述供电地引脚对应所述电压采样芯片内部的供电地采样线之间串联有二极管。

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