[发明专利]瓷绝缘子内绝缘检测方法以及瓷绝缘子检测电路

说明书

本发明提供一种瓷绝缘子内绝缘检测方法以及瓷绝缘子检测电路，该瓷绝缘子内绝缘检测方法包括：S101：通过冲击电压发生器发送冲击电压，并利用测量回路获取电压变化波形数据；S102：根据电压变化波形数据获取第一电压幅值和第一衰减时间常数以及第二电压幅值和第二衰减时间常数；S103：根据第一衰减时间常数和第二衰减时间常数获取待测瓷绝缘子的绝缘电阻；S104：根据第一电压幅值与第二电压幅值的大小或正常瓷绝缘子的绝缘电阻与待测瓷绝缘子的绝缘电阻的大小判断待测瓷绝缘子是否为劣化瓷绝缘子。本发明准确度高，能够快速检测内绝缘劣化的瓷绝缘子，并且加压时间短，功率小，能量消耗少，判断逻辑简单便于集成，便于检测设备小型化，应用场所广。

技术领域

本发明涉及瓷绝缘子检测领域，尤其涉及一种瓷绝缘子内绝缘检测方法以及瓷绝缘子检测电路。

背景技术

随着工业的发展，电力日益成为工业发展的重要保障，在电力输送中可靠的外绝缘是必不可少的，瓷绝缘子是实现可靠外绝缘的重要保障。在瓷绝缘子中，瓷绝缘子是应用最广的种类之一，瓷绝缘子制作成本低、耐候性好、不易老化，应用优势显著，因此在输电线路是得到了广泛的应用，其形式也多种多样，如盘式瓷绝缘子、耐张瓷绝缘子等。

但是，瓷绝缘子在应用过程中也有一个显著的弊端，就是容易出现内绝缘劣化，一旦瓷绝缘子出现内绝缘劣化，其绝缘电阻显著降低，直接影响输电安全，因此可靠及时地排查和发现劣化的瓷绝缘子是输电线路巡检工作的重要内容之一。

因为即使劣化的瓷绝缘子在宏观和外观上并不会呈现出明显的变化，因此，不能通过肉眼或者无人机摄像的方法排查出劣化的瓷绝缘子。需要采用电学的方法进行判别。然而，传统的检测及分析手段仅能从瓷绝缘子的绝缘电阻值进行检验，外加电压等级低，无法发现内绝缘劣化的瓷绝缘子。近年来随着各种零值瓷绝缘子检测装置的研制，其中不乏检测设备体积小、检测速度快的设备逐渐应用于电网设备的缺陷检测领域，例如红外检测、紫外检测、超声检测等。但这些方法都受到瓷绝缘子外表面污秽、环境声光电噪声的影响，精确度差，更不能暴露瓷绝缘子瓷件内部问题，对劣化瓷绝缘子存在大量的漏测。

对于瓷件头部有裂纹，但并未形成贯穿型通道的劣化瓷绝缘子，用低电压等级的摇表，测量得到的绝缘电阻值仍然较高，现有方法中只有通过工频耐压试验才能检测出来。提高检测电压是检测劣化瓷绝缘子的必要手段。但是，工频耐压试验由于需要专业设备，设备体积大，单次加压时间长，应用场所少，不便于大批量进行检测。

发明内容

为了克服现有技术的不足，本发明提出一种瓷绝缘子内绝缘检测方法以及瓷绝缘子检测电路，通过冲击电压发生器向瓷绝缘子发送冲击电压，根据瓷绝缘子在该瞬时冲击高电压下是否发生击穿以及施加电压之后瓷绝缘子上的电压变化特性，来判断所测量的瓷绝缘子是否发生了劣化，准确度高，能够快速检测内绝缘劣化的瓷绝缘子，并且加压时间短，功率小，能量消耗少，判断逻辑简单便于集成，便于检测设备小型化，应用场所广。

为解决上述问题，本发明采用的一个技术方案为：一种瓷绝缘子内绝缘检测方法，所述瓷绝缘子内绝缘检测方法包括：S101：通过冲击电压发生器分别对正常瓷绝缘子、待测瓷绝缘子发送冲击电压，并利用测量回路获取所述正常瓷绝缘子、待测瓷绝缘子的电压变化波形数据；S102：根据所述电压变化波形数据获取所述正常瓷绝缘子对应的第一电压幅值和第一衰减时间常数以及所述待测瓷绝缘子对应的第二电压幅值和第二衰减时间常数；S103：根据所述第一衰减时间常数和第二衰减时间常数获取所述待测瓷绝缘子的绝缘电阻；S104：根据所述第一电压幅值与所述第二电压幅值的大小或所述正常瓷绝缘子的绝缘电阻与所述待测瓷绝缘子的绝缘电阻的大小判断所述待测瓷绝缘子是否为劣化瓷绝缘子。

进一步地，所述测量回路包括高压探头和波形采样电路，所述波形采样电路通过所述高压探头与所述正常瓷绝缘子、待测瓷绝缘子的两端连接。