[发明专利]一种元器件故障电学检测方法

权利要求书

1.一种元器件故障电学检测方法，采用检测装置，包括以下步骤：

S1：处理系统的调试，且包括以下步骤：

S101：调试处理系统的处理器和存储控制器系统程序及调整控制参数；

S102：检查处理器和存储控制器外部设置的外设接口安装情况，确保无异常情况；

S2：将测量装置1通过数据导线和外设接口的配合与处理系统的外设接口进行插接；

S3：将显示装置通过数据导线和外设接口的配合与处理系统的外设接口进行插接；

S4：将超声扫描仪通过数据导线和外设接口的配合与处理系统的外设接口进行插接；

S5：布置好上述S1-S4步骤后固定元器件，启动设备并利用测量装置和超声扫描仪对元器件进行检测；

S6：将连接电容器的两端接线拆下，用导线直接接通电容器两接线柱进行放电，电容放电后用万用表表笔接触电容两脚时若表针跳动一下，然后又慢慢退回到电阻值为无穷大方向，表示该电容器正常；如果表针跳动范围小，则表示电容量小；如果表针跳动之后退回停在某处阻值上不动，则表示该电容器漏电；

S7：对比测量装置和超声扫描仪对元器件测得检测数据，进行分析处理并得到分析判定结果，确定目标元器件是否符合要求。

2.如权利要求1所述的一种元器件故障电学检测方法，其特征在于：所述测量装置1包括电源(11)、元器件本体(12)、滑动变阻器(13)、电流表(14)、发光二极管(15)和控制开关(16)，电源(11)、元器件本体(12)、滑动变阻器(13)、电流表(14)、发光二极管(15)和控制开关(16)分别通过导线依次首尾固定相连，组成完整通畅的串联电路。

3.如权利要求2所述的一种元器件故障电学检测方法，其特征在于：所述元器件本体(12)两端的导线分别与电压表(17)的正负接线柱并联，

所述元器件本体(12)的外壁上均匀设置有三处导电连接支脚。

4.如权利要求1所述的一种元器件故障电学检测方法，其特征在于：所述超声扫描仪的型号为A1040MIRA。

5.如权利要求1所述的一种元器件故障电学检测方法，其特征在于：所述步骤S2还包括有：

S201：将电源(11)、元器件本体(12)、滑动变阻器(13)、电流表(14)、发光二极管(15)和控制开关(16)组装成完整通畅的串联电路并在元器件本体(12)的两端并联电压表(17)；

S202：关闭控制开关(16)连通电路对元器件本体(12)进行检测，并改变元器件本体(12)的连接点，重复本次步骤，测得多组数据；

S203：对上述测得数据进行分析对比，生成图像信息；

S204：根据所述分析结果判断目标元器件本体(12)是否符合要求，得到判断结果。

6.如权利要求1所述的一种元器件故障电学检测方法，其特征在于：所述步骤S4还包括有：

S401：将元器件本体(12)固定于检测台座的预设位置，并进行定位校正；

S402：利用超声扫描仪对所述目标元器件本体(12)外表进行扫描；

S403：利用超声扫描仪对所述目标元器件本体(12)进行块状扫描；

S404：利用超声扫描仪对所述目标元器件本体(12)进行底面反射波扫描；

S405：根据扫描数据分析得到分析结果；

S406：对各扫描方式检测到的扫描数据进行成像处理，得到所述目标元器件本体(12)的扫描图像；

S407：翻转目标元器件本体(12)，重复上述步骤S402-S406；

S408：根据所述分析结果判断目标元器件本体(12)是否符合要求，得到判断结果。

7.如权利要求1所述的一种元器件故障电学检测方法，其特征在于：所述电容器(18)包括有芯子(181)、负极(182)、正极铝箔(183)、负阴极引出铝箔(184)、负极引脚(185)和正极引脚(186)。