[发明专利]一种元器件故障电学检测方法

说明书

本发明公开了一种元器件故障电学检测方法，在处理系统设备的壳体外壁上均匀设置外设接口，利用外设接口配合数据导线分别插接测量装置、显示装置和超声扫描仪，通过测量装置和超声扫描仪对元器件本体进行电学检测和超声检测后，对两者测得数据进行对比分析从而判定元器件本体是否合格，提高了设备对元器件本体故障检测的精准度，测量装置的电源、元器件本体、滑动变阻器、电流表、发光二极管和控制开关分别通过导线依次首尾固定相连，组成完整通畅的串联电路，且元器件本体两端的导线分别与电压表的正负接线柱并联，利用串联电路通畅后发光二极管是否发光的现象直接表示元器件本体是否有故障，无故障发光二极管发光，反之则不发光，便捷实用。

技术领域

本发明涉及电子元器件技术领域，具体为一种元器件故障电学检测方法。

背景技术

电子元器件是电子元件和小型的机器、仪器的组成部分，其本身常由若干零件构成，可以在同类产品中通用；常指电器、无线电、仪表等工业的某些零件，是电容、晶体管、游丝、发条等电子器件的总称。常见的有二极管等。

故障检测也可影响包括半导体制造处理的工业处理上的收益。一般而言，可采用表示操作处理工具的故障模型，以检测故障。故障模型，可根据历史数据产生，且可由小的且简单的模型变化至大的且复杂的模型，其取决于具体实施例而定。通常，每一处理工具本身具有相关的故障模型，以检测与所对应的处理工具相关的故障。随着制造系统中处理工具数目的不断增加，所需的故障模型也需增加，且也要求增加存储该故障模型所需的硬件资源。此外,也需投入大量的人力及硬件资源，以使大量故障模型有规律地被更新。

现有技术中对元器件异常进行检测的检测方法主要包括以下几种：1.人工检测，人工检测主观性比较强，长时间工作容易造成眼睛疲劳，从而导致检测质量下降，检测效率降低；而且现在人工成本越来越高；2.AOI检测系统(AutomaticOpticInspection，光学在线自动检测系统)，AOI检测系统稳定性较差，在检测过程中会出现误判、检测不准确、误报警等情况。例如申请编号为CN201911007150.4的专利文献，公开了一种半导体元器件缺陷检测方法和设备，以及申请编号为CN201711495057.3的专利文献，公开了一种电路板元器件插装异常的检测方法，分别采用拍摄治具和工业相机来进行元器件故障的检测，利用间接检测方式来检测元器件是否故障，检测精度低，误差较大。

因此，我们推出了一种元器件故障电学检测方法。

发明内容

本发明的目的在于提供一种元器件故障电学检测方法，在处理系统设备的壳体外壁上均匀设置外设接口，并利用外设接口配合数据导线分别插接测量装置、显示装置和超声扫描仪，分别利用测量装置和超声扫描仪对元器件本体进行电学检测和超声检测后，对两者测得数据进行对比分析从而判定元器件本体是否合格，从而解决了上述背景中所提出的问题。

为实现上述目的，本发明提供如下技术方案：一种元器件故障电学检测方法，采用检测装置，包括以下步骤：

S1：处理系统的调试，且包括以下步骤：

S101：调试处理系统的处理器和存储控制器系统程序及调整控制参数；

S102：检查处理器和存储控制器外部设置的外设接口安装情况，确保无异常情况。

S2：将测量装置通过数据导线和外设接口的配合与处理系统的外设接口进行插接；

S3：将显示装置通过数据导线和外设接口的配合与处理系统的外设接口进行插接；

S4：将超声扫描仪通过数据导线和外设接口的配合与处理系统的外设接口进行插接；

S5：布置好上述S1-S4步骤后固定元器件，启动设备并利用测量装置和超声扫描仪对元器件进行检测；