[发明专利]缺陷检测方法以及装置有效
申请号: | 202010481841.4 | 申请日: | 2020-05-28 |
公开(公告)号: | CN111624200B | 公开(公告)日: | 2023-05-16 |
发明(设计)人: | 陈威宪 | 申请(专利权)人: | 苏州精濑光电有限公司 |
主分类号: | G01N21/88 | 分类号: | G01N21/88;G06T7/00;G06T7/73 |
代理公司: | 北京品源专利代理有限公司 11332 | 代理人: | 孟金喆 |
地址: | 215124 江苏省苏*** | 国省代码: | 江苏;32 |
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摘要: | |||
搜索关键词: | 缺陷 检测 方法 以及 装置 | ||
1.一种缺陷检测方法,其特征在于,包括:
通过对目标图像中的至少两条缺陷线进行处理,分别确定出所述至少两条缺陷线的线条类型;
当任意两个所述线条类型之间满足预设关系类型时,确定相应两条缺陷线的目标交点位置;
基于所述目标交点位置,确定所述目标交点位置对应的两条缺陷线的相交类型;所述通过对目标图像中的至少两条缺陷线进行处理,分别确定出所述至少两条缺陷线的线条类型,包括:
针对所述至少两条缺陷线中的每条缺陷线,确定所述缺陷线在水平方向上的长度值以及在垂直方向上的高度值;
基于所述长度值与感光组件复合映像值,确定所述缺陷线在水平方向上的长度参考值;
基于所述高度值与所述感光组件复合映像值,确定所述缺陷线在垂直方向上的高度参考值;
基于所述长度参考值与所述高度参考值,确定所述缺陷线的线条类型。
2.根据权利要求1所述的方法,其特征在于,所述线条类型包括横线类型和竖线类型,相应的,所述基于所述长度参考值与所述高度参考值,确定所述缺陷线的线条类型,包括:
当所述长度参考值大于所述高度参考值时,所述缺陷线的线条类型为横线类型;
当所述长度参考值小于所述高度参考值时,所述缺陷线的线条类型为竖线类型。
3.根据权利要求1所述的方法,其特征在于,所述预设关系类型包括一个缺陷线为横线类型,另一条缺陷线为竖线类型,相应的,所述当任意两个所述线条类型之间满足预设关系类型时,确定相应两条缺陷线的目标交点位置,包括:
当任意两个线条类型中一个为横线类型,另一个为竖线类型,则确定与所述线条类型相对应的缺陷线的横纵坐标;
基于与每条缺陷线对应的横纵坐标,确定两条缺陷线的目标交点位置的交点坐标。
4.根据权利要求3所述的方法,其特征在于,所述基于与每个缺陷线对应的横纵坐标,确定两条缺陷线的目标交点位置的交点坐标,包括:
基于所述横线类型的缺陷线的横坐标确定所述目标交点位置的目标横坐标,基于所述竖线类型的缺陷线的纵坐标确定所述目标交点位置的目标纵坐标。
5.根据权利要求4所述的方法,其特征在于,所述基于所述目标交点位置,确定所述目标交点位置对应的两条缺陷线的相交类型,包括:
当所述目标交点位置的目标横坐标和目标纵坐标分别满足坐标限制条件时,则确定所述目标交点位置对应的两条缺陷线的相交类型为十字线相交类型。
6.根据权利要求5所述的方法,其特征在于,还包括:确定坐标限制条件;
所述确定坐标限制条件,包括:
基于所述竖线类型的缺陷线的横坐标与长度参考值,确定目标交点位置的横坐标范围;
基于所述横线类型的缺陷线的纵坐标与高度参考值,确定目标交点位置的纵坐标范围。
7.根据权利要求6所述的方法,其特征在于,所述当所述目标交点位置的目标横坐标和目标纵坐标分别满足坐标限制条件时,则确定所述目标交点位置对应的两条缺陷线的相交类型为十字线相交类型,包括:
当所述目标横坐标在所述横坐标范围之内,且所述纵坐标在所述纵坐标范围之内,则确定所述目标交点位置对应的两条缺陷线的相交类型为十字线相交类型。
8.根据权利要求1所述的方法,其特征在于,所述相交类型包括十字线相交类型和非十字线相交类型,所述方法还包括:
当所述相交类型为十字线相交类型,则上报两个缺陷线的相交类型;
当所述相交类型为非十字线相交类型,则依次上报两个缺陷线。
9.一种缺陷检测装置,其特征在于,包括:
线条类型检测模块,用于通过对目标图像中的至少两条缺陷线进行处理,分别确定出所述至少两条缺陷线的线条类型;
交点位置确定模块,用于当任意两个所述线条类型之间满足预设关系类型时,确定相应两条缺陷线的目标交点位置;
相交类型确定模块,用于基于所述目标交点位置,确定所述目标交点位置对应的两条缺陷线的相交类型;
所述线条类型检测模块,包括:
第一数据确定单元,用于针对所述至少两条缺陷线中的每条缺陷线,确定所述缺陷线在水平方向上的长度值以及在垂直方向上的高度值;长度参考值确定单元,用于基于所述长度值与感光组件复合映像值,确定所述缺陷线在水平方向上的长度参考值;高度参考值确定单元,用于基于所述高度值与所述感光组件复合映像值,确定所述缺陷线在垂直方向上的高度参考值;线条类型确定单元,用于基于所述长度参考值与所述高度参考值,确定所述缺陷线的线条类型。
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