[发明专利]缺陷检测方法以及装置

说明书

本发明实施例公开了一种缺陷检测方法以及装置，该方法包括：通过对目标图像中的至少两条缺陷线进行处理，分别确定出所述至少两条缺陷线的线条类型；当任意两个所述线条类型之间满足预设关系类型时，确定相应两条缺陷线的目标交点位置；基于所述目标交点位置，确定所述目标交点位置对应的两条缺陷线的相交类型。本发明实施例的技术方案，解决了现有技术中仅是根据缺陷线的数量和缺陷线之间的距离来判断十字线缺陷类型时，存在判断不准确的技术问题，实现了便捷、准确的确定十字线缺陷类型的技术效果。

技术领域

本发明实施例涉及LCD技术领域，尤其涉及一种缺陷检测方法以及装置。

背景技术

目前，检测复合缺陷是由两个缺陷中心点之间的距离，或者是根据X轴与Y轴的距离来检测缺陷，亦或是根据使用数量去判断该缺陷是否上报。

但是，在实际应用过程中，对于十字线这种特殊的复合缺陷来说，若仅以缺陷线的数量和距离来判断缺陷线是否为十字线缺陷，存在十字线缺陷判断不准确的技术问题。

发明内容

本发明提供一种缺陷检测方法以及装置，以实现便捷、高效、准确的检测缺陷线的类型十字线缺陷的技术效果

第一方面，本发明实施例提供了一种缺陷检测方法，该方法包括：

通过对目标图像中的至少两条缺陷线进行处理，分别确定出所述至少两条缺陷线的线条类型；

当任意两个所述线条类型之间满足预设关系类型时，确定相应两条缺陷线的目标交点位置；

基于所述目标交点位置，确定所述目标交点位置对应的两条缺陷线的相交类型。

第二方面，本发明实施例还提供了一种缺陷检测装置，该装置包括：

线条类型检测模块，用于通过对目标图像中的至少两条缺陷线进行处理，分别确定出所述至少两条缺陷线的线条类型；

交点位置确定模块，用于当任意两个所述线条类型之间满足预设关系类型时，确定相应两条缺陷线的目标交点位置；

相交类型确定模块，用于基于所述目标交点位置，确定所述目标交点位置对应的两条缺陷线的相交类型。

第三方面，本发明实施例还提供了一种设备，所述设备包括：

一个或多个处理器；

存储装置，用于存储一个或多个程序，

当所述一个或多个程序被所述一个或多个处理器执行，使得所述一个或多个处理器实现如本发明实施例任一所述的缺陷检测方法。

第四方面，本发明实施例还提供了一种包含计算机可执行指令的存储介质，所述计算机可执行指令在由计算机处理器执行时用于执行如本发明实施例任一所述的缺陷检测方法。

本发明实施例的技术方案，通过对目标图像中的至少两条缺陷线进行处理，分别确定出至少两条缺陷线的线条类型,当任意两个线条类型之间满足预设关系类型时，确定相应两条缺陷线的目标交点位置,基于目标交点位置，确定目标交点位置对应的两条缺陷线的相交类型，解决了现有技术中仅是根据缺陷线的数量和缺陷线之间的距离来判断十字线缺陷类型时，存在判断不准确的技术问题，实现了先通过采用一定的算法确定缺陷线的线条类型，当线条类型满足预设条件时，进一步确定缺陷线的相交类型，达到准确、便捷的确定缺陷线为十字线缺陷类型的技术效果。

附图说明

为了更加清楚地说明本发明示例性实施例的技术方案，下面对描述实施例中所需要用到的附图做一简单介绍。显然，所介绍的附图只是本发明所要描述的一部分实施例的附图，而不是全部的附图，对于本领域普通技术人员，在不付出创造性劳动的前提下，还可以根据这些附图得到其他的附图。

图1为本发明实施例一所提供的一种缺陷检测方法流程示意图；