[发明专利]一种显示面板不良的解析方法及装置

权利要求书

1.一种显示面板不良的解析方法，其特征在于，所述方法包括：

确定显示面板存在异常；

选择显示面板和/或与所述显示面板连接的覆晶薄膜模块上若干测试点，进行目标测量值的测量，以初步确定所述显示面板的第一不良区域；

所述选择显示面板和/或与所述显示面板连接的覆晶薄膜模块上若干测试点，进行目标测量值的测量，以初步确定所述显示面板的第一不良区域的步骤包括：

在与所述显示面板连接的PCB板上确定第一测试点；

在与所述显示面板连接第一覆晶薄膜模块、第二覆晶薄膜模块和第三覆晶薄膜模块上分别确定与所述第一测试点对应的第一覆晶薄膜测试点、第二覆晶薄膜测试点和第三覆晶薄膜测试点，所述第一覆晶薄膜模块、第二覆晶薄膜模块和第三覆晶薄膜模块从上到下依次排布；

根据所述第一测试点、第一覆晶薄膜测试点、第二覆晶薄膜测试点和第三覆晶薄膜测试点进行目标测量值的测量，以初步确定所述显示面板的第一不良区域；

所述目标测量值包括第一测试点、第一覆晶薄膜测试点、第二覆晶薄膜测试点和第三覆晶薄膜测试点的目标信号电压及阻值；

从所述第一不良区域由上至下进行分段镭射，在所述第一不良区域中进一步锁定显示面板的第二不良区域，所述第二不良区域小于所述第一不良区域。

2.根据权利要求1所述的显示面板不良的解析方法，其特征在于，所述确定显示面板存在异常的步骤包括：

点亮显示面板，若无法点亮显示面板或者观察到具有显示亮度不同于其他点的亮度的异常点，确定显示面板存在显示异常。

3.根据权利要求2所述的显示面板不良的解析方法，其特征在于，所述第一测试点为一个测试点，所述根据所述第一测试点、第一覆晶薄膜测试点、第二覆晶薄膜测试点和第三覆晶薄膜测试点进行目标测量值的测量，以初步确定所述显示面板的第一不良区域，包括：

测量第一测试点、第一覆晶薄膜测试点、第二覆晶薄膜测试点和第三覆晶薄膜测试点的目标信号电压及阻值；

若测量第一测试点、第一覆晶薄膜测试点、第二覆晶薄膜测试点和第三覆晶薄膜测试点的目标信号电压依次升高，阻值无异常，则将PCB板上的第一测试点与所述第三覆晶薄膜测试点导线连接，若显示面板画面恢复正常，则确定所述显示面板的第一不良区域在所述第二覆晶薄膜测试点和第三覆晶薄膜测试点之间。

4.根据权利要求3所述的显示面板不良的解析方法，其特征在于，所述从所述第一不良区域由上至下进行分段镭射，在所述第一不良区域中进一步锁定显示面板的第二不良区域的步骤，包括：

从所述第一不良区域由上至下进行分段镭射，直至目标信号电压恢复正常为止，标示目标信号电压恢复后的第一位置和上一次镭射的第二位置；

确定所述显示面板的第二不良区域为所述第一位置和所述第二位置之间的区域。

5.根据权利要求2所述的显示面板不良的解析方法，其特征在于，所述第一测试点包括两个测试点，所述在与所述显示面板连接的PCB板上确定第一测试点包括：

分别测量所述PCB板各预设测试点之间是否短路；

若短路，确定所述PCB板上之间短路的两个测试点；

所述在与所述显示面板连接第一覆晶薄膜模块、第二覆晶薄膜模块和第三覆晶薄膜模块上分别选择与所述第一测试点对应的第一覆晶薄膜测试点、第二覆晶薄膜测试点和第三覆晶薄膜测试点，包括：

分别在与所述显示面板连接第一覆晶薄膜模块、第二覆晶薄膜模块和第三覆晶薄膜模块上，找到与所述第一测试点中两个测试点对应的两个测试点，确定第一覆晶薄膜测试点、第二覆晶薄膜测试点和第三覆晶薄膜测试点。