[发明专利]一种显示面板不良的解析方法及装置

说明书

本发明实施例公开了一种显示面板不良的解析方法及装置，本发明实施例中方法包括：确定显示面板存在异常；选择显示面板和/或与所述显示面板连接的覆晶薄膜COF模块上若干测试点，进行目标测量值的测量，以初步确定显示面板的第一不良区域；从第一不良区域由上至下进行分段镭射，在第一不良区域中进一步锁定显示面板上更小的第二不良区域。本发明实施例可以更加快速的解析显示面板上的不良区域，提高了显示面板不良的解析效率和解析成功率，节省了解析时间。

技术领域

本发明涉及显示技术领域，具体涉及一种显示面板不良的解析方法及装置。

背景技术

随着光电与半导体技术的演进，也带动了平板显示器(Flat Panel Display，FPD)的蓬勃发展，而在诸多平板显示器中，液晶显示器(Liquid Crystal Display，LCD)因具有高空间利用效率、低消耗功率、无辐射以及低电磁干扰等诸多优越特性，已成为市场的主流。

现有市场上的液晶显示器大部分为背光型液晶显示器，其主要包括液晶显示面板和背光源。液晶显示面板包括具有彩色滤光片基板(Color Filter，CF)、薄膜晶体管阵列基板以及设置在两个基板之间的液晶层。通常，在彩色滤光片基板上会涂布有黑色矩阵、RGB彩色滤光片和导电氧化物电极(通常为氧化铟锡(Indium Tin Oxide，ITO))，在薄膜晶体管阵列基板上会形成提供扫描信号的扫描线、提供数据信号的数据线以及像素电极。液晶显示器通过对导电氧化物电极和像素电极施加电压而在液晶层中产生电场，通过产生的电场确定液晶层的液晶分子的取向，并且控制入射光的偏振以显示图像。在现有的生产制备中，在彩色滤光片基板上形成彩色滤光片的CF制程以及液晶成盒的cell制程期间会有一些金属等的异物掉落。当异物掉落到液晶显示器的显示区中时，会导致彩色滤光片基板与薄膜晶体管基板的电路或像素短路，从而会造成显示不良的线和点。

针对此不良需要进行分析确认，目前对于不良的解析只能通过万用表量测显示面板电压/阻值，无法准确找到异常点，为找到异常点只能在显示面板上从头到尾(显示面板末端)逐次排查，一是浪费时间，效率低下，二是无法准确确认异常位置。

发明内容

本发明实施例提供一种显示面板不良的解析方法及装置，提高了显示面板不良的解析效率和解析成功率，节省了解析时间。

为解决上述问题，本发明提供的技术方案如下：

确定显示面板存在异常；

选择显示面板和/或与所述显示面板连接的覆晶薄膜COF模块上若干测试点，进行目标测量值的测量，以初步确定所述显示面板的第一不良区域；

从所述第一不良区域由上至下进行分段镭射，在所述第一不良区域中进一步锁定显示面板的第二不良区域，所述第二不良区域小于所述第一不良区域。

进一步的，所述确定显示面板存在异常的步骤包括：

点亮显示面板，若无法点亮显示面板或者观察到具有显示亮度不同于其他点的亮度的异常点，确定显示面板存在显示异常。

在本申请一些实施方案中，所述选择显示面板和/或与所述显示面板连接的覆晶薄膜COF模块上若干测试点，进行目标测量值的测量，以初步确定所述显示面板的第一不良区域的步骤包括：

在与所述显示面板连接的PCB板上确定第一测试点；

在与所述显示面板连接第一COF模块、第二COF模块和第三COF模块上分别确定与所述第一测试点对应的第一COF测试点、第二COF测试点和第三COF测试点，所述第一COF模块、第二COF模块和第三COF模块从上到下依次排布；

根据所述第一测试点、第一COF测试点、第二COF测试点和第三COF测试点进行目标测量值的测量，以初步确定所述显示面板的第一不良区域。