[发明专利]带有测试磁体的传感器装置及所属的方法

说明书

本发明涉及带有测试磁体的传感器装置及所属的方法。传感器装置包括：至少一个测试磁体，这些测试磁体被设计为提供测试磁场；第一传感器元件，该第一传感器元件被设计为检测磁场并且提供第一传感器信号，其中第一传感器信号包括基于测试磁场的第一信号贡献；第二传感器元件，该第二传感器元件被设计为检测磁场并且提供第二传感器信号，其中第二传感器信号包括基于测试磁场的第二信号贡献；其中第一传感器元件的位置处的测试磁场不同于第二传感器元件的位置处的测试磁场。

技术领域

本公开总体上涉及传感器装置。特别地，本公开涉及带有测试磁体的传感器装置和用于运行这种传感器装置的方法。

背景技术

传感器装置的传感器元件被设计为检测物理信号并且将物理信号转换为用于进一步处理的电信号。对于传感器装置的可靠运行，传感器装置的传感器元件是关键性部件。如果由传感器元件提供的反馈信息已经是有错误的，则传感器装置就无法可靠地运行。传感器装置的制造商一直致力于改善其产品。特别地，期望的是，提供传感器装置的可靠运行。

发明内容

本公开的一个方面涉及一种传感器装置，包括：至少一个测试磁体，这些测试磁体被设计为提供测试磁场(magnetisches Testfeld)；第一传感器元件，该第一传感器元件被设计为检测磁场并且提供第一传感器信号，其中第一传感器信号包括基于测试磁场的第一信号贡献(Signalbeitrag)；第二传感器元件，该第二传感器元件被设计为检测磁场并且提供第二传感器信号，其中第二传感器信号包括基于测试磁场的第二信号贡献；其中第一传感器元件的位置处的测试磁场不同于第二传感器元件的位置处的测试磁场。

本公开的另一方面涉及一种方法，包括：提供测试磁场；通过第一传感器元件提供第一传感器信号，其中第一传感器信号包括基于测试磁场的第一信号贡献；通过第二传感器元件提供第二传感器信号，其中第二传感器信号包括基于测试磁场的第二信号贡献；其中第一传感器元件的位置处的测试磁场不同于第二传感器元件的位置处的测试磁场。

附图说明

在下文中借助附图进一步阐明根据本公开的传感器装置和所属的方法。在附图中示出的元件并不一定按相对于彼此的正确比例绘制。相同的附图标记可以表示相同的部件。

图1示意性地示出根据本公开的传感器装置100的横截面侧视图。

图2示出根据本公开的传感器系统200的框图。

图3示意性地示出根据本公开的传感器装置300的横截面侧视图。

图4示意性地示出根据本公开的传感器装置400的横截面侧视图。

图5示意性地示出根据本公开的传感器装置500的横截面侧视图。

图6示意性地示出根据本公开的传感器装置600的横截面侧视图。

图7示意性地示出根据本公开的传感器装置700的横截面侧视图。

图8示意性地示出根据本公开的传感器装置800的横截面侧视图。

图9示意性地示出根据本公开的传感器装置900的横截面侧视图。

图10示意性地示出根据本公开的传感器装置1000的横截面侧视图。

图11示意性地示出根据本公开的传感器装置1100的横截面侧视图。

图12示意性地示出根据本公开的传感器装置1200的横截面侧视图。

图13示意性地示出根据本公开的传感器装置1300的横截面侧视图。

图14示意性地示出根据本公开的传感器装置1400的横截面侧视图。

图15示意性地示出根据本公开的传感器装置1500的横截面侧视图。