[发明专利]矢量调制器移相器的装置和方法在审

专利信息
申请号: 202010494111.8 申请日: 2020-06-03
公开(公告)号: CN112039493A 公开(公告)日: 2020-12-04
发明(设计)人: P·K·萨哈 申请(专利权)人: 美国亚德诺半导体公司
主分类号: H03H11/16 分类号: H03H11/16
代理公司: 中国贸促会专利商标事务所有限公司 11038 代理人: 刘倜
地址: 美国马*** 国省代码: 暂无信息
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摘要:
搜索关键词: 矢量 调制器 移相器 装置 方法
【权利要求书】:

1.具有宽带操作的移相器,该移相器包括:

正交滤波器,被配置为对输入信号进行滤波以产生同向(I)电压和正交相(Q)电压;

第一可变增益放大器(VGA),被配置为放大I电压以产生I电流;

第二VGA,被配置为放大Q电压以产生Q电流;和

电流模式组合器,被配置为组合I电流和Q电流以产生输出信号,其中第一VGA的第一增益设置和第二VGA的第二增益设置可操作为控制输出信号和输入信号之间的相移。

2.权利要求1所述的移相器,其中所述第一VGA包括多个跨导级,所述多个跨导级被配置为彼此并行操作,其中第一增益设置的值可操作以从所述多个跨导级中选择一个或多个有源跨导级以提供放大。

3.权利要求2所述的移相器,其中所述多个跨导级中的每一个都包括电流转向电路,用于有选择地将级电流转向到输出或电源电压。

4.权利要求2所述的移相器,第一VGA是差分实现的,并且包括同向电流输出和反向电流输出,其中所述多个跨导级中的每一个都包括电流转向电路,用于有选择地将级电流转向到同向电流输出或反向电流输出。

5.权利要求2所述的移相器,其中所述第一VGA在多个增益设置中可操作,其中所述多个跨导级中的每一个处于关闭状态或在多个增益设置上以基本恒定的电流密度工作。

6.权利要求1所述的移相器,其中所述电流模式组合器包括级联晶体管,所述电流模式组合器被配置为组合所述I电流和所述Q电流以产生流过所述级联晶体管的组合电流。

7.权利要求6所述的移相器,还包括输出匹配网络,该输出匹配网络包括接收所述组合电流的输出匹配电容器。

8.权利要求1所述的移相器,还包括映射表,该映射表被配置为将所述移相器的相移设置映射到第一增益设置和第二增益设置,其中该映射表被校准以补偿I/Q不平衡。

9.权利要求8所述的移相器,耦合到s-参数检测器,该s-参数检测器被配置为生成与所述移相器的多个相移设置相关联的多个参数测量值,其中所述控制电路被配置为基于所述多个参数测量值来校准该映射表。

10.一种相移方法,该方法包括:

滤波输入信号以产生同向(I)电压和正交相(Q)电压;

使用移相器的第一可变增益放大器(VGA)放大I电压以产生I电流;

使用所述移相器的第二VGA放大Q电压以产生Q电流;

使用所述移相器的电流模式组合器组合I电流和Q电流以产生输出信号;和

通过控制第一VGA的第一增益设置和第二VGA的第二增益设置,控制所述输出信号和所述输入信号之间的相移。

11.权利要求10所述的方法,其中控制相移包括使用映射表将相移设置映射到所述第一增益设置和所述第二增益设置以及校准该映射表。

12.权利要求11所述的方法,其中校准映射表包括:通过控制第一增益设置和第二增益设置,将所述移相器设置为第一相位状态,在所述第一相位状态下测量所述移相器的第一参数;通过控制第一增益设置和第二增益设置,将所述移相器设置为第二相位状态,在所述第二相位状态下测量所述移相器的第二参数;和基于所述第一参数和所述第二参数产生该映射表。

13.权利要求12所述的方法,其中

所述第一相位状态和所述第二相位状态分离约90度。

14.权利要求13所述的方法,其中所述第一相位状态提供大约0°的相移,并且所述第二相位状态提供大约90°的相移。

15.权利要求12所述的方法,其中所述第一参数和所述第二参数是s-参数。

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