[发明专利]一种粒度统计方法在审

专利信息
申请号: 202010498936.7 申请日: 2020-06-04
公开(公告)号: CN111707587A 公开(公告)日: 2020-09-25
发明(设计)人: 邱骏挺 申请(专利权)人: 核工业北京地质研究院
主分类号: G01N15/02 分类号: G01N15/02;G06F17/18;G06T5/40
代理公司: 核工业专利中心 11007 代理人: 董和煦
地址: 100029 *** 国省代码: 北京;11
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摘要:
搜索关键词: 一种 粒度 统计 方法
【权利要求书】:

1.一种粒度统计方法,其特征在于:包括如下步骤:

步骤1、计算比例因子;步骤2、统计拍摄获取的颗粒的直径;步骤3、根据步骤1确定的比例因子统计颗粒的实际直径。

2.根据权利要求1所述的一种粒度统计方法,其特征在于:所述步骤1包括如下步骤:

步骤1.1,在显微镜载物台上放上刻度尺。

步骤1.2,利用数码摄像头或者摄像机透过显微镜目镜拍摄刻度尺的照片,并将照片导入计算机;

步骤1.3,计算比例因子。

3.根据权利要求2所述的一种粒度统计方法,其特征在于:所述步骤1.3中,比例因子S的计算方法为:

S=实际刻度长度/图像刻度长度。

4.根据权利要求3所述的一种粒度统计方法,其特征在于:所述步骤2包括如下步骤:

步骤2.1,将岩石矿物标本进行切割、粘贴和打磨制作成光薄片,将光薄片放置于偏光显微镜载物台上;

步骤2.2,利用数码摄像头或者摄像机透过显微镜目镜拍摄光薄片照片,并将照片导入计算机;

步骤2.3,利用矢量绘图软件中的直线工具沿光薄片照片中颗粒的最大直径画直线,直线的长度等于颗粒最大直径的长度,每张照片至少画300颗矿物颗粒的直径;

步骤2.4,利用计算机语言编程统计所有直线的长度L。

5.根据权利要求4所述的一种粒度统计方法,其特征在于:刻度尺的厚度需要与光薄片的厚度等厚。

6.根据权利要求4所述的一种粒度统计方法,其特征在于:所述步骤2.3中,使用的矢量软件为CorelDRAW,且必须包含VBA模块。

7.根据权利要求4所述的一种粒度统计方法,其特征在于:所述步骤2.4中,使用的计算机语言程序为VBA,第i条直线的长度L(i)的获取代码如下:

L(i)=ActiveSelectedRange.shapes(i).curve.length。

8.根据权利要求4所述的一种粒度统计方法,其特征在于:所述步骤3包括如下步骤:

步骤3.1,利用比例因子换算出颗粒的实际直径R;

步骤3.2,对实际直径进行统计。

9.根据权利要求8所述的一种粒度统计方法,其特征在于:所述步骤3.1中,实际粒径R的计算方法为:

R=L×S

所述步骤3.2中,直径的统计利用Excel的概率直方图进行统计。

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