[发明专利]一种粒度统计方法在审

专利信息
申请号: 202010498936.7 申请日: 2020-06-04
公开(公告)号: CN111707587A 公开(公告)日: 2020-09-25
发明(设计)人: 邱骏挺 申请(专利权)人: 核工业北京地质研究院
主分类号: G01N15/02 分类号: G01N15/02;G06F17/18;G06T5/40
代理公司: 核工业专利中心 11007 代理人: 董和煦
地址: 100029 *** 国省代码: 北京;11
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摘要:
搜索关键词: 一种 粒度 统计 方法
【说明书】:

发明属于岩矿鉴定技术领域,具体涉及一种岩石矿物的颗粒粒度统计方法。本发明包括如下步骤:步骤1、计算比例因子;步骤2、统计拍摄获取的颗粒的直径;步骤3、根据步骤1确定的比例因子统计颗粒的实际直径。本发明操作步骤简单,在现有设备基础上即可完成,便于实现;统计效率高,节省了人力物力;不易出错,准确率高;以计算机为辅助手段,便于后期复查。

技术领域

本发明属于岩矿鉴定技术领域,具体涉及一种岩石矿物的颗粒粒度统计方法。

背景技术

岩石矿物的颗粒粒度分析是岩矿鉴定的重要内容,对岩石的成因以及沉积环境分析等有重要的意义。当前,判断岩石矿物颗粒粒度主要依赖于薄片方法,即通过人工方法在显微镜下利用带有刻度的叉丝测量颗粒的粒径,将粒径记录在纸质表格中,最后再人工进行统计。这种方法不仅耗费时间精力且效率低下,还容易出现统计错误,后期复查难度也很大。

发明内容

本发明的目的在于提供一种粒度统计方法,该方法操作步骤简单,统计效率高,不易出错,且便于后期复查。

实现本发明目的的技术方案:

一种粒度统计方法,包括如下步骤:

步骤1、计算比例因子;步骤2、统计拍摄获取的颗粒的直径;步骤3、根据步骤1确定的比例因子统计颗粒的实际直径。

所述步骤1包括如下步骤:

步骤1.1,在显微镜载物台上放上刻度尺。

步骤1.2,利用数码摄像头或者摄像机透过显微镜目镜拍摄刻度尺的照片,并将照片导入计算机;

步骤1.3,计算比例因子。

所述步骤1.3中,比例因子S的计算方法为:

S=实际刻度长度/图像刻度长度。

所述步骤2包括如下步骤:

步骤2.1,将岩石矿物标本进行切割、粘贴和打磨制作成光薄片,将光薄片放置于偏光显微镜载物台上;

步骤2.2,利用数码摄像头或者摄像机透过显微镜目镜拍摄光薄片照片,并将照片导入计算机;

步骤2.3,利用矢量绘图软件中的直线工具沿光薄片照片中颗粒的最大直径画直线,直线的长度等于颗粒最大直径的长度,每张照片至少画300颗矿物颗粒的直径;

步骤2.4,利用计算机语言编程统计所有直线的长度L。

刻度尺的厚度需要与光薄片的厚度等厚。

所述步骤2.3中,使用的矢量软件为CorelDRAW,且必须包含VBA模块。

所述步骤2.4中,使用的计算机语言程序为VBA,第i条直线的长度L(i)的获取代码如下:

L(i)=ActiveSelectedRange.shapes(i).curve.length。

所述步骤3包括如下步骤:

步骤3.1,利用比例因子换算出颗粒的实际直径R;

步骤3.2,对实际直径进行统计。

所述步骤3.1中,实际粒径R的计算方法为:

R=L×S

所述步骤3.2中,直径的统计利用Excel的概率直方图进行统计。

本发明的有益技术效果在于:

(1)本发明提供的一种岩石矿物的颗粒粒度统计方法,操作步骤简单,在现有设备基础上即可完成,便于实现;

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