[发明专利]适用于存储装置的温度调节方法及系统

权利要求书

1.一种温度调节方法，适用于一存储装置，包括步骤：

(a)利用一温度感测元件持续获取该存储装置的一温度变化斜率；

(b)控制该存储装置以一参考效能进行运行；

(c)判断该温度变化斜率是否大于一第一设定斜率，在判断结果为是时执行步骤(d)，在判断结果为否时执行该步骤(b)；以及

(d)执行一第一调整指令，以使该存储装置以一第一效能进行运行，其中该第一效能是小于该参考效能；

其中，在执行完该步骤(d)后，执行该步骤(c)。

2.如权利要求1所述的温度调节方法，于执行完该步骤(d)后，且执行该步骤(c)之前，还包括步骤：

(e)判断该温度变化斜率是否大于一第二设定斜率，在判断结果为是时执行步骤(f)，在判断结果为否时执行该步骤(c)，其中该第二设定斜率是大于该第一设定斜率；以及

(f)执行一第二调整指令，以使该存储装置以一第二效能进行运行，并再次执行该步骤(e)，其中该第二效能是小于该第一效能。

3.如权利要求2所述的温度调节方法，其中，该第一调整指令及该第二调整指令是包含降低该存储装置的运行时钟或频宽。

4.一种温度调节系统，适用于一存储装置，包含：

一温度感测元件，连接于该存储装置，架构于感测该存储装置的温度；以及

一控制器，连接于该存储装置及该温度感测元件，以接收并依据该存储装置的温度获取该存储装置的一温度变化斜率，并且根据该温度变化斜率及该控制器中预设的一第一设定斜率调节该存储装置的效能；

其中，该控制器在该温度变化斜率大于该第一设定斜率时对该存储装置执行一第一调整指令，该第一调整指令是用以降低该存储装置的效能，从而通过降低效能影响该存储装置的该温度变化斜率。

5.如权利要求4所述的温度调节系统，其中，该控制器还预设有一第二设定斜率，该温度变化斜率在小于该第一设定斜率时，该存储装置是正常工作并以一参考效能运行，该控制器在该温度变化斜率大于该第一设定斜率并小于该第二设定斜率时，对该存储装置执行该第一调整指令，以控制该存储装置以一第一效能运行，其中该第一效能是小于该参考效能，该控制器在该温度变化斜率在大于该第二设定斜率时，对该存储装置执行一第二调整指令，以控制该存储装置以一第二效能运行，其中该第二效能是小于该第一效能。

6.如权利要求5所述的温度调节系统，其中，该第一调整指令及该第二调整指令是包含降低该存储装置的运行时钟或频宽。