[发明专利]适用于存储装置的温度调节方法及系统

说明书

本公开提供一种适用于存储装置的温度调节方法及系统，该方法包括步骤：(a)利用温度感测元件持续获取存储装置的温度变化斜率；(b)控制存储装置以参考效能进行运行；(c)判断温度变化斜率是否大于第一设定斜率，在判断结果为是时执行步骤(d)，在判断结果为否时执行步骤(b)；以及(d)执行第一调整指令，以使存储装置以第一效能进行运行，其中第一效能是小于参考效能。其中，在执行完步骤(d)后，执行步骤(c)。

技术领域

本公开涉及一种温度调节方法及系统，特别涉及一种适用于存储装置的温度调节方法及系统。

背景技术

电子装置在运行时，为了避免其存储装置上的电子元件过热而导致存储装置损坏，因此设有温度调节系统，借此保护存储装置。

现有的温度调节系统是于存储装置上的温度超出预设的临界值时执行对应的程序，以降低存储装置的温度。然而，当存储装置的温度到达临界值而对其温度进行调节时，往往存储装置已经产生过度的热堆积，进而对存储装置上的电子元件造成慢性伤害，因此减少存储装置的使用寿命，且无法有效的确保数据安全及系统的稳定性。此外，通过临界值判断是否进行温度调节的方式并无法对存储装置的温度变化趋势做出估计或判断。

因此，如何发展一种可改善上述现有技术的温度调节方法及系统，实为目前迫切的需求。

发明内容

本公开的主要目的为提供一种适用于存储装置的温度调节方法及系统，根据感测存储装置的温度变化斜率而对存储装置进行相应调节，以调整其温度变化斜率，从而避免于存储装置上产生过度的热堆积，并防止因热堆积而对存储装置上的电子元件造成慢性伤害，借此增加存储装置的使用寿命，且有效的确保数据安全及系统的稳定性。

本公开的另一目的为提供一种适用于存储装置的温度调节方法及系统，通过感测存储装置的温度变化斜率，可得知存储装置的温度变化的快慢程度，从而提前对存储装置的温度变化趋势做出估计或判断。

为达上述目的，本公开提供一种适用于存储装置的温度调节方法，包括步骤：(a)利用温度感测元件持续获取存储装置的温度变化斜率；(b)控制存储装置以参考效能进行运行；(c)判断温度变化斜率是否大于第一设定斜率，在判断结果为是时执行步骤(d)，在判断结果为否时执行步骤(b)；以及(d)执行第一调整指令，以使存储装置以第一效能进行运行，其中第一效能是小于参考效能。其中，在执行完步骤(d)后，执行步骤(c)。

为达上述目的，本公开提供一种适用于存储装置的温度调节系统，温度调节系统包含温度感测元件及控制器。温度感测元件连接于存储装置且架构于感测存储装置的温度。控制器连接于存储装置及温度感测元件，控制器接收并依据存储装置的温度获取存储装置的温度变化斜率。且控制器中预设有第一设定斜率，控制器根据温度变化斜率与第一设定斜率调节存储装置的效能。其中，控制器在温度变化斜率大于第一设定斜率时，执行对存储装置的第一调整指令，第一调整指令是用以降低存储装置的效能，从而通过降低效能影响存储装置的温度变化斜率。

附图说明

图1是为本公开优选实施例的温度调节系统的电路结构示意图。

图2是为本公开优选实施例的温度调节方法的流程图。

图3是为本公开另一优选实施例的温度调节方法的流程图。

其中，附图标记说明如下：

1：温度调节系统

2：存储装置

3：温度感测元件

4：控制器

S1、S2、S3、S4、S5、S6：步骤

具体实施方式