[发明专利]海相页岩吸附气含量评价方法、装置、电子设备及介质在审
申请号: | 202010500230.X | 申请日: | 2020-06-04 |
公开(公告)号: | CN113762660A | 公开(公告)日: | 2021-12-07 |
发明(设计)人: | 王鹏威;刘光祥;高波;冯动军;刘忠宝;聂海宽;陈刚;边瑞康;杜伟;王濡岳;李倩文 | 申请(专利权)人: | 中国石油化工股份有限公司;中国石油化工股份有限公司石油勘探开发研究院 |
主分类号: | G06Q10/06 | 分类号: | G06Q10/06;G06F30/20 |
代理公司: | 北京思创毕升专利事务所 11218 | 代理人: | 孙向民;廉莉莉 |
地址: | 100027 北*** | 国省代码: | 北京;11 |
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摘要: | |||
搜索关键词: | 海相 页岩 吸附 含量 评价 方法 装置 电子设备 介质 | ||
1.一种海相页岩吸附气含量评价方法,其特征在于,包括:
获取已知页岩吸附气含量区域的实际地质数据;
获取页岩吸附气含量的多个评价参数;
基于所述实际地质数据,分别建立每个评价参数与页岩吸附气含量的数学模型;
基于所述多个数学模型,建立页岩吸附气含量的评价模型;
基于所述页岩吸附气含量的评价模型和目标区域的实际地质数据,计算所述目标区域的页岩吸附气含量。
2.根据权利要求1所述的海相页岩吸附气含量评价方法,其特征在于,采用逐步法分析页岩吸附气的富集主控因素,获取页岩吸附气含量的多个评价参数。
3.根据权利要求2所述的海相页岩吸附气含量评价方法,其特征在于,所述基于所述实际地质数据,分别建立每个评价参数与页岩吸附气含量的数学模型包括:
将每个评价参数对应的实际地质数据与页岩吸附气含量进行拟合,建立每个评价参数与页岩吸附气含量的数学模型。
4.根据权利要求3所述的海相页岩吸附气含量评价方法,其特征在于,所述评价参数包括:有机微孔孔隙度、伊利石孔孔隙度、脆性矿物孔孔隙度、地层温度和地层压力。
5.根据权利要求4所述的海相页岩吸附气含量评价方法,其特征在于,所述评价参数与页岩吸附气含量的数学模型包括:
页岩吸附气含量与有机微孔孔隙度的数学模型为:Ga=a*TOC*W+n,
页岩吸附气含量与伊利石孔孔隙度的数学模型为:Ga=b*Illite*exp(k+f*Sw)+r,
页岩吸附气含量与脆性矿物孔孔隙度的数学模型为:Ga=c*Quartz+s,
页岩吸附气含量与地层温度的数学模型为:Ga=d*exp(l+m*T+g*T2)+t,
页岩吸附气含量与地层压力的数学模型为:Ga=e*P/(P+h),其中,Ga为吸附气含量,TOC为有机质含量,W为微孔所占比例,Illite为伊利石含量,Sw为含水饱和度,Quartz为脆性矿物含量,T为地层温度,P为地层压力,a、n、b、k、f、r、c、s、d、l、m、g、t、e、h均为评价系数。
6.根据权利要求5所述的海相页岩吸附气含量评价方法,其特征在于,所述基于所述多个数学模型,建立页岩吸附气含量的评价模型包括:
采用多元回归的方法将多个所述数学模型进行整合,获得所述页岩吸附气含量的评价模型。
7.根据权利要求6所述的海相页岩吸附气含量评价方法,其特征在于,所述页岩吸附气含量的评价模型为:
Ga=a*TOC*W+b*Illite*exp(k+f*Sw)+c*Quartz+d*exp(l+m*T+g*T2)+e*P/(P+h)+j其中,j为评价系数。
8.一种电子设备,其特征在于,所述电子设备包括:
存储器,存储有可执行指令;
处理器,所述处理器运行所述存储器中的所述可执行指令,以实现根据权利要求1-7中任一项所述的海相页岩吸附气含量评价方法。
9.一种计算机可读存储介质,其特征在于,该计算机可读存储介质存储有计算机程序,该计算机程序被处理器执行时实现根据权利要求1-7中任一项所述的海相页岩吸附气含量评价方法。
10.一种海相页岩吸附气含量评价装置,其特征在于,包括:
实际地质数据获取模块,获取已知页岩吸附气含量区域的实际地质数据;
评价参数获取模块,获取页岩吸附气含量的多个评价参数;
单个参数数学模型建立模块,基于所述实际地质数据,分别建立每个评价参数与页岩吸附气含量的数学模型;
吸附气含量评价模型建立模块,基于所述多个数学模型,建立页岩吸附气含量的评价模型;
计算模块,基于所述页岩吸附气含量的评价模型和目标区域的实际地质数据,计算所述目标区域的页岩吸附气含量。
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