[发明专利]一种质量测定用电子分析天平

权利要求书

1.一种质量测定用电子分析天平，包括电子分析天平座(1)，电子分析天平座(1)的顶部设有五个密封的玻璃门，其特征在于：所述电子分析天平座(1)顶端的中部设有称量传动的称量联动轴(3)，所述称量联动轴(3)的顶部固定连接有位于电子分析天平座(1)上方的托盘(4)，所述称量联动轴(3)的底端与电子分析天平座(1)内部的称量计量机构连接，所述称量联动轴(3)的外围设有可旋转的辅助托环(5)，且辅助托环(5)位于所述托盘(4)的下方，所述辅助托环(5)旋转一定角度后悬挂在称量联动轴(3)上，所述辅助托环(5)的顶部设有两个可旋转的半环夹板(502)，且半环夹板(502)的弧顶可旋转至托盘(4)的正上方；

所述辅助托环(5)的两侧均开设有与半环夹板(502)相适配的放置槽(501)，放置槽(501)的两侧与半环夹板(502)的两端分别设有旋转轴，半环夹板(502)以两个旋转轴的连接线为轴心线进行旋转，且放置槽(501)的高度值与半环夹板(502)的厚度值相同，所述辅助托环(5)上开设有位于两个放置槽(501)弧顶处的滑槽，且滑槽的槽口延伸至辅助托环(5)的最外沿，两个半环夹板(502)的弧顶处均开设有通槽，两个通槽的内部分别固定套装有定位轴，两个定位轴的中部活动套装有转动轴(5021)，两个转动轴(5021)的一端分别固定连接有半环夹板(502)内侧的夹持管套(8)；

所述夹持管套(8)的形状为半环管状，且两个所述夹持管套(8)顶部和底部的内侧均设有弹性夹垫(801)，两个夹持管套(8)内腔的顶部和底部均活动套装有半环磁块(802)，两个半环磁块(802)的向对面磁极相反，夹持管套(8)的内壁固定安装有位于两个半环磁块(802)之间的微型离子棒(804)，两个夹持管套8内腔的顶部和底部分别固定安装有限位套805，且限位套805与半环磁块802活动套接，一个所述夹持管套(8)内的两个半环磁块(802)上分别固定连接有拨动轴(803)，且两个拨动轴(803)分别延伸至夹持管套(8)顶部和底部的外侧，夹持管套(8)的顶部和底部均开设有与拨动轴(803)相适配的滑槽，一个夹持管套(8)内两个半环磁块(802)一端的外侧均设有弹性卡板，且两个弹性卡板与另一个夹持管套(8)的侧壁卡接。

2.根据权利要求1所述的一种质量测定用电子分析天平，其特征在于：所述称量联动轴(3)上固定套装有位于托盘(4)下方的联动套管(301)，所述联动套管(301)位于辅助托环(5)的内圈处，且联动套管(301)的外侧固定连接有两个限位管(302)，两个所述限位管(302)以称量联动轴(3)的轴心旋转对称，两个所述限位管(302)的一端均预留有管口，所述辅助托环(5)的内圈固定连接有两个分别位于两个限位管(302)一侧的定位块(503)，两个所述定位块(503)的侧面均固定连接有朝向限位管(302)管口的插轴，且插轴的高度值恰好与限位管(302)内腔的高度值相同，所述托盘(4)的顶部为内凹式设计。

3.根据权利要求1所述的一种质量测定用电子分析天平，其特征在于：所述电子分析天平座(1)顶部的两侧均固定连接有位于辅助托环(5)一侧的支撑块(6)，所述辅助托环(5)的两侧均固定连接有支撑板(504)，且支撑板(504)的底部与支撑块(6)的顶部活动连接。

4.根据权利要求1所述的一种质量测定用电子分析天平，其特征在于：所述半环夹板(502)的内圈与托盘(4)的外围设有一定间距，且该间距的具体值应大于实验室常规圆底烧瓶的底部直径值。

5.根据权利要求1所述的一种质量测定用电子分析天平，其特征在于：所述电子分析天平座(1)的顶部设有位于四个玻璃门内的干燥管(7)，四个干燥管(7)分别设于电子分析天平座(1)顶部的四角，且干燥管(7)的内部装有干燥剂。