[发明专利]一种质量测定用电子分析天平

说明书

本发明涉及电子称量设备领域，且公开了一种质量测定用电子分析天平，包括电子分析天平座，电子分析天平座的顶部设有五个密封的玻璃门，所述电子分析天平座顶端的中部设有称量传动的称量联动轴，所述称量联动轴的顶部固定连接有位于电子分析天平座上方的托盘，所述称量联动轴的底端与电子分析天平座内部的称量计量机构连接。该质量测定用电子分析天平，通过与托盘额外联动的辅助托环结构增设，利用辅助托环两侧的半环夹板，便于对盛有液体试剂的圆底烧瓶或试管夹持进行质量测定，无需将圆底烧瓶和液体试剂转移至烧杯，再利用烧杯放置在托盘上进行质量测定，减少了液体试剂的称量步骤，提高了液体试剂的称量效率。

技术领域

本发明涉及电子称量设备领域，具体为一种质量测定用电子分析天平。

背景技术

电子分析天平是质量测定精数高的一种电子天平，其测定精确到达到0.1mg，同时，利用了电子天平的传感技术、模拟技术、数字电子技术和微处理器技术，具有自动校准、自动显示、去皮重、自动数据输出、自动故障寻迹、超载保护等多种功能，电子天平通常使用电磁力传感器(见称重传感器)，组成一个闭环自动调节系统，准确度高，稳定性好，由于电子分析天平的测定精确数高，常用与实验室试剂品的精确称量，以变了解各试品进行化学反应前后的变化。

电子天平的工作原理：当托盘上加上被称物时，传感器的位置检测器信号发生变化，并通过放大器反馈使传感器线圈中的电流增大，该电流在恒定磁场中产生一个反馈力与所加载荷相平衡；同时，该电流在测量电阻Rm上的电压值通过滤波器、模/数转换器送入微处理器，进行数据处理，最后由显示器自动显示出被称物质量数值。

然而，由于实验室内，化学试剂有固体和液体两种状态，而现有的电子分析天平在称量液体试剂时，因不能直接对盛有液体试剂的圆底烧瓶和试管进行化学反应前后的整体质量测定，因此，需要将圆底烧瓶或试管内的试剂转移至平底烧杯中，通过平底烧杯放置在托盘上进行质量测定，再转移至圆底烧瓶或试管内进行化学反应前后的质量测定，使得液体试剂的称量步骤增加，导致液体试剂的称量效率不高，并且，液体试剂转移时存在损失，进而导致液体药剂质量测定结果的精确性降低。

发明内容

针对上述背景技术的不足，本发明提供了一种质量测定用电子分析天平，具备便于精确测定固体和液体化学试剂的质量的优点，解决了背景技术提出的问题。

本发明提供如下技术方案：一种质量测定用电子分析天平，包括电子分析天平座，电子分析天平座的顶部设有五个密封的玻璃门，所述电子分析天平座顶端的中部设有称量传动的称量联动轴，所述称量联动轴的顶部固定连接有位于电子分析天平座上方的托盘，所述称量联动轴的底端与电子分析天平座内部的称量计量机构连接，所述称量联动轴的外围设有可旋转的辅助托环，且辅助托环位于所述托盘的下方，所述辅助托环旋转一定角度后悬挂在称量联动轴上，所述辅助托环的顶部设有两个可旋转的半环夹板，且半环夹板的弧顶可旋转至托盘的正上方。

优选的，所述称量联动轴上固定套装有位于托盘下方的联动套管，所述联动套管位于辅助托环的内圈处，且联动套管的外侧固定连接有两个限位管，两个所述限位管以称量联动轴的轴心旋转对称，两个所述限位管的一端均预留有管口，所述辅助托环的内圈固定连接有两个分别位于两个限位管一侧的定位块，两个所述定位块的侧面均固定连接有朝向限位管管口的插轴，且插轴的高度值恰好与限位管内腔的高度值相同，所述托盘的顶部为内凹式设计。

优选的，所述电子分析天平座顶部的两侧均固定连接有位于辅助托环一侧的支撑块，所述辅助托环的两侧均固定连接有支撑板，且支撑板的底部与支撑块的顶部活动连接。

优选的，所述辅助托环的两侧均开设有与半环夹板相适配的放置槽，放置槽的两侧与半环夹板的两端分别设有旋转轴，半环夹板以两个旋转轴的连接线为轴心线进行旋转，且放置槽的高度值与半环夹板的厚度值相同，所述辅助托环上开设有位于两个放置槽弧顶处的滑槽，且滑槽的槽口延伸至辅助托环的最外沿，两个半环夹板的弧顶处均开设有通槽，两个通槽的内部分别固定套装有定位轴，两个定位轴的中部活动套装有转动轴，两个转动轴的一端分别固定连接有半环夹板内侧的夹持管套。