[发明专利]一种用于北斗导航芯片的抗老化测试装置

权利要求书

1.一种用于北斗导航芯片的抗老化测试装置，其特征在于：包括高温老化试验箱(1)，所述高温老化试验箱(1)箱体前端面相邻箱门右下方部位转动安装有矩形限位板(2)；所述高温老化试验箱(1)包括有标识牌(101)、橡胶夹紧块(102)、矩形内嵌凹槽(105)、弧形缺槽(106)，所述高温老化试验箱(1)箱体前端面中间下侧方部位开设有一处矩形内嵌凹槽(105)，且矩形内嵌凹槽(105)内端左侧面及右侧面上均设置有一块橡胶夹紧块(102)，所述矩形内嵌凹槽(105)内端顶侧面及底侧面中间部位均开设有一处弧形缺槽(106)，所述高温老化试验箱(1)箱体前端面位于矩形内嵌凹槽(105)下侧方部位固定安装有一块标识牌(101)，所述矩形内嵌凹槽(105)内内嵌安装有一组定时器(3)，且定时器(3)经由橡胶夹紧块(102)限位固定；所述高温老化试验箱(1)箱体前端面位于矩形限位板(2)下侧方部位内嵌安装有定时器(3)。

2.如权利要求1所述一种用于北斗导航芯片的抗老化测试装置，其特征在于：所述高温老化试验箱(1)包括有轴承(103)、限位孔槽(104)，所述高温老化试验箱(1)箱体前端面相邻箱门右下方部位安装有一个轴承(103)，所述高温老化试验箱(1)箱门前端面右下方部位开设有一处限位孔槽(104)，且限位孔槽(104)与轴承(103)处于同一水平线。

3.如权利要求1所述一种用于北斗导航芯片的抗老化测试装置，其特征在于：所述矩形限位板(2)包括有滚珠(204)、转轴(206)，所述矩形限位板(2)后端面右侧方部位设置有一根转轴(206)，且转轴(206)与轴承(103)转动相连接，所述矩形限位板(2)后端面不与高温老化试验箱(1)箱体前端面及箱门前端面相接触，所述述矩形限位板(2)后端面左侧方中间部位内嵌转动安装有一颗滚珠(204)，且滚珠(204)与高温老化试验箱(1)箱体前端面及箱门前端面处于同一相切水平面。

4.如权利要求1所述一种用于北斗导航芯片的抗老化测试装置，其特征在于：所述矩形限位板(2)包括有圆形挡块(202)、限位插销(203)、复位弹簧(205)、橡胶垫块(207)、箭头标识(208)、滑动通孔(209)，所述矩形限位板(2)前端面左侧方部位开设有一处滑动通孔(209)，且滑动通孔(209)内滑动连接有一根限位插销(203)，所述限位插销(203)前端面固定连接有一块与其同轴心的圆形挡块(202)，且圆形挡块(202)后端面与矩形限位板(2)前端面通过一个复位弹簧(205)固定相连接，所述限位插销(203)后端面设置有一块与其同直径的橡胶垫块(207)，所述圆形挡块(202)前端面设置有箭头标识(208)。

5.如权利要求1所述一种用于北斗导航芯片的抗老化测试装置，其特征在于：所述矩形限位板(2)顶端面与高温老化试验箱(1)顶端面处于平行状态时，所述限位插销(203)与闭合状态下高温老化试验箱(1)箱门上所开设的限位孔槽(104)处于同一轴心状态下，并且限位插销(203)及橡胶垫块(207)限位插接在限位孔槽(104)内。

6.如权利要求1所述一种用于北斗导航芯片的抗老化测试装置，其特征在于：所述矩形限位板(2)顶端面与高温老化试验箱(1)顶端面处于垂直状态时，所述橡胶垫块(207)后端面与定时器(3)前端面相接触，所述箭头标识(208)的箭头端指向标识牌(101)。

7.如权利要求1所述一种用于北斗导航芯片的抗老化测试装置，其特征在于：所述矩形限位板(2)包括有圆形限位柱(201)，所述矩形限位板(2)顶端面中间偏右部位固定连接有一根圆形限位柱(201)，所述矩形限位板(2)顶端面与高温老化试验箱(1)顶端面处于垂直状态时，圆形限位柱(201)位于闭合状态下高温老化试验箱(1)箱门底端面下侧方部位。

8.如权利要求2所述一种用于北斗导航芯片的抗老化测试装置，其特征在于：所述轴承(103)与定时器(3)前端面的按压式启动开关处于同一垂直线，当所述矩形限位板(2)顶端面与高温老化试验箱(1)顶端面处于垂直状态时，所述滚珠(204)与定时器(3)前端面的按压式启动开关接触，按压式启动开关处于被按压启动状态。