[发明专利]一种用于北斗导航芯片的抗老化测试装置

说明书

本发明提供一种用于北斗导航芯片的抗老化测试装置，涉及抗老化测试设备技术领域，解决了新手操作人员前几次因遗忘需要静置10‑20分钟散热的问题，导致其打开箱门时，高温的热量迅速排出，对新手操作人员手部及手臂造成灼伤的问题。一种用于北斗导航芯片的抗老化测试装置，包括高温老化试验箱，所述高温老化试验箱箱体前端面相邻箱门右下方部位转动安装有矩形限位板。通过该定时器的启动、箭头标识指向标识牌的设计，对操作人员起到提醒效果，避免其遗忘需要静置等待降温的操作步骤，从而有效的避免操作人员被高温灼伤。

技术领域

本发明属于抗老化测试设备技术领域，更具体地说，特别涉及一种用于北斗导航芯片的抗老化测试装置。

背景技术

现芯片热老化测试方式，将芯片装到PCBA电路上，通电运行，放入高温老化试验箱内，运行4到8小时，甚至更长，后续通过观察参数变化，确定热老化试验数据。

例如申请号：CN201610973308.3本发明涉及一种新型高温老化试验箱，包括支架和箱体，箱体前侧壁上设有箱门，箱体外部底端分别设有电机和减速机，减速机的输出轴的顶端还设有水平布置的转盘，同时在转盘的底端还设有多个万向滚珠，在转盘上还连接有竖直向上延伸的转轴，在转轴上还固定套设有多个环形托盘，在环形托盘上均匀开设有多个托盘通孔，并且在环形托盘的顶部平面还均匀分布有多个竖直向上延伸的凸杆，同时在箱体的内部左端还设有竖向布置的左电热棒，在箱体的内部右端还设有竖向布置的右电热棒。通过采用上述结构，本发明能够大大减轻多个试验部件之间的受热差异，从而有效提升了自身的使用性能。

基于上述专利的检索，以及结合现有技术中的设备发现，现高温老化试验箱在实际应用时存在以下安全隐患：新手操作人员前几次使用高温老化试验箱进行芯片热老化试验时，因其对高温老化试验箱具体流程步骤的不熟悉，当高温老化试验运行时间完毕后，其极易遗忘要静置10-20分钟，等待排风系统散去高温老化试验箱内部高温热量后才能打开箱门，因遗忘该需要静置10-20分钟散热的问题，导致其打开箱门时，高温的热量迅速排出，对新手操作人员手部及手臂造成灼伤。

发明内容

为了解决上述技术问题，本发明提供一种用于北斗导航芯片的抗老化测试装置，以解决新手操作人员前几次使用高温老化试验箱进行芯片热老化试验时，因其对高温老化试验箱具体流程步骤的不熟悉，当高温老化试验运行时间完毕后，其极易遗忘要静置10-20分钟，等待排风系统散去高温老化试验箱内部高温热量后才能打开箱门，因遗忘该需要静置10-20分钟散热的问题，导致其打开箱门时，高温的热量迅速排出，对新手操作人员手部及手臂造成灼伤的问题。

本发明一种用于北斗导航芯片的抗老化测试装置的目的与功效，由以下具体技术手段所达成：

一种用于北斗导航芯片的抗老化测试装置，包括高温老化试验箱，所述高温老化试验箱箱体前端面相邻箱门右下方部位转动安装有矩形限位板；所述高温老化试验箱包括有标识牌、橡胶夹紧块、矩形内嵌凹槽、弧形缺槽，所述高温老化试验箱箱体前端面中间下侧方部位开设有一处矩形内嵌凹槽，且矩形内嵌凹槽内端左侧面及右侧面上均设置有一块橡胶夹紧块，所述矩形内嵌凹槽内端顶侧面及底侧面中间部位均开设有一处弧形缺槽，所述高温老化试验箱箱体前端面位于矩形内嵌凹槽下侧方部位固定安装有一块标识牌，所述矩形内嵌凹槽内内嵌安装有一组定时器，且定时器经由橡胶夹紧块限位固定；所述高温老化试验箱箱体前端面位于矩形限位板下侧方部位内嵌安装有定时器。

进一步的，所述高温老化试验箱包括有轴承、限位孔槽，所述高温老化试验箱箱体前端面相邻箱门右下方部位安装有一个轴承，所述高温老化试验箱箱门前端面右下方部位开设有一处限位孔槽，且限位孔槽与轴承处于同一水平线。

进一步的，所述矩形限位板包括有滚珠、转轴，所述矩形限位板后端面右侧方部位设置有一根转轴，且转轴与轴承转动相连接，所述矩形限位板后端面不与高温老化试验箱箱体前端面及箱门前端面相接触，所述述矩形限位板后端面左侧方中间部位内嵌转动安装有一颗滚珠，且滚珠与高温老化试验箱箱体前端面及箱门前端面处于同一相切水平面。