[发明专利]热阻测量装置及方法在审
申请号: | 202010510089.1 | 申请日: | 2020-06-05 |
公开(公告)号: | CN111521263A | 公开(公告)日: | 2020-08-11 |
发明(设计)人: | 陈展耀;戴书麟;刘风雷 | 申请(专利权)人: | 浙江水晶光电科技股份有限公司 |
主分类号: | G01J1/42 | 分类号: | G01J1/42;G01J9/00;G01M11/02 |
代理公司: | 北京超凡宏宇专利代理事务所(特殊普通合伙) 11463 | 代理人: | 崔熠 |
地址: | 318000 浙江省台州市椒*** | 国省代码: | 浙江;33 |
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摘要: | |||
搜索关键词: | 测量 装置 方法 | ||
1.一种热阻测量装置,用于测量激光模组的热阻,其特征在于,包括温度控制器、光功率计以及波长测量仪;所述温度控制器的工作面用于设置激光模组并控制其温度,所述激光模组具有出光方向分别朝向所述光功率计和所述波长测量仪的第一状态和第二状态,所述光功率计用于测量所述激光模组的出光功率,所述波长测量仪用于测量所述激光模组的出光波长。
2.如权利要求1所述的热阻测量装置,其特征在于,所述热阻测量装置还包括滑轨,所述温度控制器滑动设置于所述滑轨上,所述光功率计和所述波长测量仪沿所述滑轨的延伸方向分别设置于所述温度控制器远离所述滑轨的一侧。
3.如权利要求1所述的热阻测量装置,其特征在于,所述温度控制器的工作面设置有导热板。
4.如权利要求1所述的热阻测量装置,其特征在于,所述光功率计包括光电型积分球。
5.如权利要求1所述的热阻测量装置,其特征在于,所述光功率计沿所述激光模组第一状态时的出光方向滑动设置。
6.如权利要求1至5任一项所述的热阻测量装置,其特征在于,所述光功率计的量程为0至10瓦。
7.如权利要求2所述的热阻测量装置,其特征在于,所述滑轨为直线型,且所述滑轨的长度为0.8米至1.2米之间。
8.如权利要求1至5任一项所述的热阻测量装置,其特征在于,所述温度控制器的控温范围为0至70摄氏度。
9.一种热阻测量方法,其特征在于,用于测量激光模组的热阻,所述方法包括:
调节激光模组的温度,并获取各所述温度及其分别对应的所述激光模组的出光波长;
根据各所述温度及其对应的所述出光波长,计算得到所述激光模组的出光波长关于其温度的导数;
调节激光模组的光功率,获取各所述光功率及其分别对应的所述激光模组的出光波长,并根据各所述光功率分别计算对应的所述激光模组的热功率;
根据各所述热功率及所述出光波长,计算得到所述激光模组的出光波长关于其热功率的导数;
根据所述出光波长关于所述温度的导数,以及所述出光波长关于所述热功率的导数,计算得到所述激光模组的热阻。
10.如权利要求9所述的热阻测量方法,其特征在于,所述调节激光模组的光功率,获取各所述光功率及其分别对应的所述激光模组的出光波长,并根据各所述光功率分别计算对应的所述激光模组的热功率,包括:
调节所述激光模组的驱动电流;
获取各所述驱动电流下所述激光模组分别对应的所述光功率及所述出光波长;
根据所述驱动电流及其对应的所述光功率,计算得到所述热功率。
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