[发明专利]热阻测量装置及方法

说明书

本发明提供一种热阻测量装置及方法，属于光电技术领域。热阻测量装置，用于测量激光模组的热阻，包括：温度控制器、光功率计以及波长测量仪；温度控制器的工作面用于设置激光模组并控制其温度，激光模组具有出光方向分别朝向光功率计和波长测量仪的第一状态和第二状态，光功率计用于测量激光模组的出光功率，波长测量仪用于测量激光模组的出光波长。本发明的目的在于提供一种热阻测量装置及方法，能够简便快速的对激光模组的热阻进行测量，以用于评价激光模组的散热性能。

技术领域

本发明涉及光电技术领域，具体而言，涉及一种热阻测量装置及方法。

背景技术

近年来，3D成像在消费电子领域中的应用越来越广，例如在3D扫描，人脸支付，场景建模领域。3D成像技术不仅可以对目标物体进行成像，而且还能获取目标物体的深度信息。结构光或者tof(时间飞行)深度相机是目前应用最广的3D成像设备。通常深度相机由激光模组和相机接收模组以及处理芯片构成。

其中，激光模组在使用过程中会产生大量的热量，当热量积累到一定程度时，激光模组会由于过热而导致激光簇灭，同时会影响激光模组的使用寿命。因此，需要对激光模组的散热性能进行检测，以卡控激光模组的出货良率，从而避免将散热性能较差的激光模组应用于深度相机等需要激光光源的装置或系统中影响产品良率。通常，采用激光模组的热阻来评价其散热性能，热阻越大则散热性能越差。但是目前对于激光模组的热阻进行测量的难度较大，测量效率较低。

发明内容

本发明的目的在于提供一种热阻测量装置及方法，能够简便快速的对激光模组的热阻进行测量，以用于评价激光模组的散热性能。

本发明的实施例是这样实现的：

本发明实施例的一方面，提供一种热阻测量装置，用于测量激光模组的热阻，包括：温度控制器、光功率计以及波长测量仪；温度控制器的工作面用于设置激光模组并控制其温度，激光模组具有出光方向分别朝向光功率计和波长测量仪的第一状态和第二状态，光功率计用于测量激光模组的出光功率，波长测量仪用于测量激光模组的出光波长。

可选地，热阻测量装置还包括滑轨，温度控制器滑动设置于滑轨上，光功率计和波长测量仪沿滑轨的延伸方向分别设置于温度控制器远离滑轨的一侧。

可选地，温度控制器的工作面设置有导热板。

可选地，光功率计包括光电型积分球。

可选地，光功率计沿激光模组第一状态时的出光方向滑动设置。

可选地，光功率计的量程为0至10瓦。

可选地，滑轨为直线型，且滑轨的长度为0.8米至1.2米。

可选地，温度控制器的控温范围为0至70摄氏度。

本发明实施例的另一方面，提供一种热阻测量方法，用于测量激光模组的热阻，该方法包括：

调节激光模组的温度，并获取各温度及其分别对应的激光模组的出光波长；

根据各温度及其对应的出光波长，计算得到激光模组的出光波长关于其温度的导数；

调节激光模组的光功率，获取各光功率及其分别对应的激光模组的出光波长，并根据各光功率分别计算对应的激光模组的热功率；

根据各热功率及出光波长，计算得到激光模组的出光波长关于其热功率的导数；

根据出光波长关于温度的导数，以及出光波长关于热功率的导数，计算得到激光模组的热阻。

可选地，调节激光模组的光功率，获取各光功率及其分别对应的激光模组的出光波长，并根据各光功率分别计算对应的激光模组的热功率，包括：

调节激光模组的驱动电流；