[发明专利]一种分布式线束测试装置及其方法在审
申请号: | 202010516252.5 | 申请日: | 2020-06-09 |
公开(公告)号: | CN111537918A | 公开(公告)日: | 2020-08-14 |
发明(设计)人: | 王家斌 | 申请(专利权)人: | 上海赞太科技有限公司 |
主分类号: | G01R31/58 | 分类号: | G01R31/58;G01R31/54 |
代理公司: | 北京中济纬天专利代理有限公司 11429 | 代理人: | 季永康 |
地址: | 201899 上海市嘉定区菊园*** | 国省代码: | 上海;31 |
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摘要: | |||
搜索关键词: | 一种 分布式 测试 装置 及其 方法 | ||
1.一种分布式线束测试装置,其特征在于,包括:测试节点阵列,其包括若干测试节点,所述测试节点包括微处理器、信号发生单元、信号采样单元和若干测试端子,所述的信号采样单元的信号采集端连接到所有测试端子,各测试端子皆与选择开关连接,信号发生单元包括多个信号发生设备,信号发生设备的信号输出端连接至所有选择开关的选择端上,选择开关的一个选择端上最多连接一个信号发生设备,所述信号发生单元、信号采样单元和选择开关皆连接至微处理器;
公共线,包括全局公共线和内部公共线,所有测试节点共用全局公共线,所有测试节点中分别设置有内部公共线,单个测试节点中,测试端子可通过选择开关连接到内部公共线上;
控制系统,向测试节点发送命令信号,并接收测试节点发送的采集信号。
2.根据权利要求1所述的分布式线束测试装置,其特征在于,所述信号发生单元包括模拟信号发生设备、基准电压发生设备和接地信号设备,模拟信号发生设备输入端连接微处理器,基准电压发生设备的控制端连接至微处理器。
3.根据权利要求1所述的分布式线束测试装置,其特征在于,所述模拟信号发生设备为数模转换器。
4.根据权利要求1所述的分布式线束测试装置,其特征在于,所述的测试端子和选择开关之间设有限流电阻。
5.根据权利要求1所述的分布式线束测试装置,其特征在于,所述采样单元为模数转换器。
6.根据权利要求1所述的分布式线束测试装置,其特征在于,所述测试节点阵列中的测试节点呈矩阵排列,同一列测试节点通过同一条总线连接到控制系统。
7.根据权利要求6所述的分布式线束测试装置,其特征在于,所述的控制系统包括:FPGA控制器和嵌入式处理器,FPGA控制器和嵌入式处理器之间电连接,FPGA控制器还连接到总线驱动器阵列,总线驱动器即用来连接从测试节点接入的总线。
8.一种分布式线束测试方法,其特征在于,包括如下步骤:
向控制系统中输入待测线束的拓扑结构信息和测试机台的配置信息;
获取测试机台上每个测试节点中测试端子的连接信息,并根据测试端子连接信息,将测试端子映射到待测线束的拓扑结构中;
先进行测试节点内线束连通性测试,再进行测试节点间线束连通性测试;
进行线束中功能元件的参数测试;
分析测试内容,生成测试结果。
9.如权利要求8所述的分布式线束测试方法,其特征在于,步骤B所述的测试端子连接信息获得方式是:测试节点呈矩阵排列,共排成m排,n列,第一列中,测试节点分别为测试节点1-1、测试节点1-2、…、测试节点1-m,第二列中,测试节点分别为测试节点2-1、测试节点2-2、…、测试节点2-m,依次类推,第n列中,测试节点分别为测试节点n-1、测试节点n-2、…、测试节点n-m;
测试节点含有a个测试端子,则取名为,测试端子1、测试端子2、…、测试端子a,同一测试节点中,测试端子排序越小,优先级越高,测试节点的优先级为先列后排;
待测线束的第一待测点接入任一测试节点中的任一测试端子,并记录该测试端子的引脚信息,待测线束第二待测点接入优先级紧跟第一待测点所对应测试端子的测试端子,待测线束第三待测点接入优先级紧跟第二待测点所对应测试端子的测试端子,依次类推,将待测线束的所有待测点接入到测试端子上,当获得待测线束的第一待测点对应待测端子的引脚信息,则待测线束其他所有待测点对应的待测端子的引脚信息都能得到,则获得了测试机台上每个测试节点中测试端子的连接信息。
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