[发明专利]一种分布式线束测试装置及其方法

说明书

本发明提供的分布式线束测试装置及其方法，其中装置包括：测试节点阵列，其包括若干测试节点，测试节点包括微处理器、信号发生单元、信号采样单元和若干测试端子，该信号采样单元的信号采集端连接到所有测试端子，每个测试端子都连接有一个选择开关，信号发生单元包括多个信号发生设备，信号发生设备的信号输出端连接至所有选择开关的选择端上，选择开关的选择端与信号发生设备连接，信号发生单元、信号采样单元和选择开关都连接至微处理器；所有测试节点共用全局公共线，所有测试节点中分别设置有内部公共线，单个测试节点中，测试端子可通过选择开关连接到内部公共线上；控制系统，向测试节点发送命令信号，并接收测试节点发送的采集信号。

技术领域

本发明涉及线路检测领域，具体涉及一种分布式线束测试装置及其方法。

背景技术

在汽车、航空、工业控制等领域，大量使用到各种型号的线束，线束的连接正确性以及线束中的功能元件参数正确性关系到一个系统能否可靠的工作。

线束测试是对系统中连接各电气部件的接线部件及线束中包含的电阻、电容、二极管等功能元件进行测试，一般需要测量线束的导通、功能元件参数等。

传统的线束测试装置采用多个接线母板级联的方式，由接线母板、线束接插件、测试电路和方法组成集成式的测试装置。待测线束通过多个线束接插件转换后，线束按照接插件分组排列，依次连接到接线母板的IO阵列上。IO阵列的引脚数目一般为128个。多个接线母板的IO阵列级联在一起，组成更大规模的IO阵列。

传统的方式通过人工组装线束。组装过程中需要查找IO阵列上的引脚位置和线束接插件之间的对应关系。安装过程费时费力，容易出错，严重影响生产效率。传统的线束测试方法基于传统的线束测试电路，通过测试电路对IO阵列进行串行扫描，逐一建立线束接插件在测试算法中的对应关系。该过程也是费时费力，容易出错，严重影响生产效率。

发明内容

本发明的主要目的在于提供一种分布式线束测试装置及其方法，以解决线束测试安装费时费力，以及测试过程复杂的问题。

为了实现上述目的，根据本发明的一个方面，该分布式线束测试装置，包括：

测试节点阵列，其包括若干测试节点，所述测试节点包括微处理器、信号发生单元、信号采样单元和若干测试端子，所述的信号采样单元的信号采集端连接到所有测试端子，每个测试端子都连接有一个选择开关，信号发生单元包括多个信号发生设备，信号发生设备的信号输出端连接至所有选择开关的选择端上，选择开关的一个选择端上最多连接一个信号发生设备，所述信号发生单元、信号采样单元和选择开关都连接至微处理器；

公共线，包括全局公共线和内部公共线，所有测试节点共用全局公共线，所有测试节点中分别设置有内部公共线，单个测试节点中，测试端子可通过选择开关连接到内部公共线上；

控制系统，向测试节点发送命令信号，并接收测试节点发送的采集信号。

通过将测试节点按阵列布置，每个测试节点结构相同，测试节点中每个测试端子结构相同，所以待测线束按顺序接在测试端子上，只需要通过转换不同的信号发生设备，即可对线束进行测试。

上述线束顺序安装在测试端子上，是指线束进行拓扑，线束一般将各点进行编号，各点按编号顺序接入测试端子上，并且测试端子的接线优先级也有设定，首先测试节点组成的矩阵中，按先列后排的方式，即从第一列第一排开始，依次第一列第一排、第一列第二排，依次类推第一列中测试节点中所有测试端子使用完毕后，就使用第二列，规则同上，一直至最后一列。而测试节点中的测试端子使用优先级是，测试节点中的测试端子一般是32个，或者64个，将测试端子按编号0-31，或者0-63，使用时也按照编号顺序即可。

进一步，上述信号发生单元包括模拟信号发生设备、基准电压发生设备和接地信号设备，模拟信号发生设备输入端连接微处理器，基准电压发生设备的控制端连接至微处理器。