[发明专利]基于氧化损伤碱基的荧光探针及用于直接检测DNA甲基化的试剂盒与方法有效
申请号: | 202010518312.7 | 申请日: | 2020-06-09 |
公开(公告)号: | CN111778316B | 公开(公告)日: | 2022-12-27 |
发明(设计)人: | 张春阳;张艳;李琛琛 | 申请(专利权)人: | 山东师范大学 |
主分类号: | C12Q1/6827 | 分类号: | C12Q1/6827;C12Q1/682;C12Q1/6886;C12N15/11 |
代理公司: | 济南圣达知识产权代理有限公司 37221 | 代理人: | 郑平 |
地址: | 250014 山*** | 国省代码: | 山东;37 |
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摘要: | |||
搜索关键词: | 基于 氧化 损伤 碱基 荧光 探针 用于 直接 检测 dna 甲基化 试剂盒 方法 | ||
1.一种非疾病诊断目的的直接检测DNA甲基化的方法,其特征在于,包括:
亚硫酸氢盐处理要检测的靶DNA;
将荧光探针与亚硫酸氢盐处理过的DNA杂交,形成双链DNA;
所述双链DNA在hOGG1酶的辅助下诱导荧光探针的循环裂解;
检测荧光信号,对DNA甲基化进行定性/定量分析;
所述荧光探针的序列为:ROX-ATC C
2.如权利要求1所述的直接检测DNA甲基化的方法,其特征在于,甲基化DNA的浓度为10-13M至10-9M范围内和2×10-9M至10-7M范围内,荧光强度与甲基化DNA的浓度对数线性关系。
3.如权利要求1所述的直接检测DNA甲基化的方法,其特征在于,甲基化DNA的浓度在10-13M至10-9M范围内时,回归方程为F=1466+101.7log10C,F是605nm处的荧光强度,C是甲基化DNA浓度。
4.如权利要求1所述的直接检测DNA甲基化的方法,其特征在于,甲基化DNA的浓度在2×10-9M至10-7M范围内时,回归方程为F=12506+1367log10C,F是605nm处的荧光强度,C是甲基化DNA浓度。
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