[发明专利]相干层析系统及其参考波前校正方法、装置及设备有效
申请号: | 202010530583.4 | 申请日: | 2020-06-11 |
公开(公告)号: | CN111543959B | 公开(公告)日: | 2021-05-04 |
发明(设计)人: | 安其昌;刘欣悦;张景旭;李洪文 | 申请(专利权)人: | 中国科学院长春光学精密机械与物理研究所 |
主分类号: | A61B5/00 | 分类号: | A61B5/00;G02B26/06 |
代理公司: | 北京集佳知识产权代理有限公司 11227 | 代理人: | 薛娇 |
地址: | 130033 吉林省长春市*** | 国省代码: | 吉林;22 |
权利要求书: | 查看更多 | 说明书: | 查看更多 |
摘要: | |||
搜索关键词: | 相干 层析 系统 及其 参考 校正 方法 装置 设备 | ||
本发明公开了一种光学相干层析成像系统,包括光源、干涉仪和光电探测器,还包括控温装置,干涉仪中的参考臂包括球面反射镜;其中,球面反射镜背面贴合设置胶垫;胶垫背离球面反射镜的表面均匀设置有多个加热片;各个加热片和控温装置相连接;控温装置用于根据光电探测器采集到的干涉条纹对比度控制各个加热片加热,球面反射镜受热形变,以使光电探测器探测到的干涉条纹对比度达到预定对比度。本申请中参考臂采用球面反射镜,可直接对入射的球面波反射,且背面设置加热片使得球面反射镜面形可以改变,对入射的光波进行补偿校正,提高干涉条纹对比度。本申请还提供了光学相干层析成像系统的参考波前校正方法、装置以及设备,具有上述有益效果。
技术领域
本申请涉及光学相干层成像技术领域,具体涉及光学相干层析成像系统及其参考波前校正方法、装置以及设备。
背景技术
光学相干层析成像(optical coherence tomography, OCT)是20世纪90年代逐步发展而成的一种新的三维层析成像技术。OCT基于低相干干涉原理获得深度方向的层析能力,通过扫描可以重构出生物组织或材料内部结构的二维或三维图像,其信号对比度源于生物组织或材料内部光学反射(散射)特性的空间变化。利用相干层析系统得到的光学断层图像的组织特征,以确定诊断要识别的目标 。光学相干层析技术与常规影像手段相比具有独特优势,其影像效果接近病理,同时具有无创无辐射、活体实时观测、高分辨率(16微米)、组织内深度成像、3D影像数据等优点。
如图1所示,图1为现有技术中常规的光学相干层析成像系统的框架结构示意图,图1中低相干光源1发出的光束通过光线传导至光纤耦合器2,被分成两路光线,一路光线传导至参考臂3反射后再次传导至光纤耦合器2,而另一路入射至人体组织5,并经过人体组织不同的组织层反射后,沿原路返回至光纤耦合器2;因通过参考臂3反射回光纤耦合器2的光束和通过人体组织5反射回光纤耦合器2的光束光程不同,两路光束可发生干涉,并通过光谱仪4检测到干涉图像,基于该干涉图像,即可获得人体组织影像。
基于图1可知,参考臂3主要是由准直透镜组31和反射平面镜32组成,因为光纤传输至参考臂3的光束为发散光束,需要通过准直透镜组31转换为平行光束,经过反射平面镜32反射才能保证光束沿原光路返回并传导至光纤耦合器2。显然该光路中光纤的端部需要位于准直透镜组31的焦点上,而准直透镜组31的光轴需要垂直于反射平面镜32,但是,在实际应用过程中,光纤端部、准直透镜组31以及反射平面镜32之间相对位置的对准精度并不一定完全理想,且在光学相干层析成像系统在搬运过程中,都会导致各个部件之间的对准精度降低,进而影响光束的传导,使得干涉条纹的对比度降低,影响光学相干层析成像系统的使用性能。
发明内容
本发明的目的是提供一种光学相干层析成像系统及其参考波前校正方法、装置以及设备,提高了光学相干层析成像系统的干涉条纹的对比度,进而提高对人体组织检测的准确率。
为解决上述技术问题,本发明提供一种光学相干层析成像系统,包括光源、干涉仪和光电探测器,还包括控温装置,所述干涉仪中的参考臂包括球面反射镜;
其中,所述球面反射镜背面贴合设置胶垫;所述胶垫背离所述球面反射镜的表面均匀设置有多个加热片;各个所述加热片和控温装置相连接;
所述控温装置用于根据所述光电探测器采集到的干涉条纹对比度控制各个所述加热片加热,所述球面反射镜受热形变,以使所述光电探测器探测到的干涉条纹对比度达到预定对比度。
可选地,所述球面反射镜为K9玻璃镀铝膜反射镜。
可选地,所述胶垫为RTV胶垫。
可选地,所述胶垫的厚度满足:,其中,t为所述RTV胶垫的厚度,为所述球面反射镜的半径,为所述加热片热膨胀系数, 为所述球面反射镜的热膨胀系数,为受载情况下所述RTV胶垫的热膨胀系数
可选地,所述加热片为铜片或铝片。
该专利技术资料仅供研究查看技术是否侵权等信息,商用须获得专利权人授权。该专利全部权利属于中国科学院长春光学精密机械与物理研究所,未经中国科学院长春光学精密机械与物理研究所许可,擅自商用是侵权行为。如果您想购买此专利、获得商业授权和技术合作,请联系【客服】
本文链接:http://www.vipzhuanli.com/pat/books/202010530583.4/2.html,转载请声明来源钻瓜专利网。
- 上一篇:测量视线受阻构件定位坐标的方法
- 下一篇:一种微型无人机及其飞行控制方法