[发明专利]控制方法、半导体微波烹饪电器和存储介质

权利要求书

1.一种控制方法，用于半导体微波烹饪电器，其特征在于，所述半导体微波烹饪电器包括腔体和两个微波馈入组件，所述控制方法包括：

根据预设的多个微波参数组依次控制所述两个微波馈入组件同时发射微波至所述腔体内，所述微波参数组包括微波的相位差和频率；

获取每次发射微波所对应的所述两个微波馈入组件的反射功率；

根据多次获取的所述微波馈入组件的反射功率确定所述腔体的场对称参数；

每个所述微波参数组包括一个微波相位差和与所述微波相位差对应的频率范围，所述多个微波参数组的所述微波相位差不同，所述频率范围相同，或

每个所述微波参数组包括一个频率和与所述频率对应的相位差范围，所述多个微波参数组的所述频率不同，所述相位差范围相同；

获取每次发射微波所对应的所述两个微波馈入组件的反射功率，包括：

在每次发射微波的情况下，检测所述腔体的反射微波；

根据所述腔体的反射的微波确定所述两个微波馈入组件的反射功率；

通过腔体的反射微波进而确定两个微波馈入组件的反射功率，从而可确定腔体的场对称参数，所述场对称参数为半导体微波烹饪电器腔体内微波电磁场的相位对称时所对应的发射微波的微波相位差和频率；

根据多次获取的所述微波馈入组件的反射功率确定所述腔体的场对称参数，包括：

对每次获取到的两个所述微波馈入组件的反射功率作相减处理以获得一个差值；

根据多次获取的所述微波馈入组件的反射功率的所述差值确定所述腔体的场对称参数；

根据多次获取的所述微波馈入组件的反射功率的所述差值确定所述腔体的场对称参数，包括：

对多次获取的所述微波馈入组件的反射功率的所述差值作均方根运算以得到多个均方根值；

根据所述多个均方根值确定所述腔体的场对称参数；

根据所述多个均方根值确定所述腔体的场对称参数，包括：在处理所述多个均方根值获得到一个最小均方根值的情况下，根据所述最小均方根值确定所述腔体的场对称参数；

在处理所述多个均方根值获得到多个最小均方根值的情况下，根据所述多个最小均方根值和负载实验确定所述腔体的场对称参数。

2.根据权利要求1所述的控制方法，其特征在于，所述控制方法包括：根据所述腔体的场对称参数控制所述半导体微波烹饪电器运行。

3.一种半导体微波烹饪电器，其特征在于，包括腔体、两个微波馈入组件和控制器，所述控制器连接所述两个微波馈入组件，所述控制器用于实现权利要求1-2任一项所述的控制方法。

4.一种计算机可读存储介质，其上存储有计算机程序，其特征在于，所述计算机程序被处理器执行时实现权利要求1-2任一项所述的控制方法。