[发明专利]一种平板探测装置及系统

权利要求书

1.一种平板探测装置，其特征在于，包括：平板探测器和多个采样电路；

所述平板探测器包括多个探测单元；其中，一列所述探测单元与一个所述采样电路电连接；

所述采样电路包括采样放大电路和补偿电路；

所述探测单元用于在探测阶段中，接收光信号并将接收的所述光信号转换为探测信号，以及在扫描信号端的第一信号的控制下将所述探测信号提供给所述采样放大电路；在复位阶段中，在扫描信号端的第二信号的控制下接收所述采样放大电路输出的复位信号和所述补偿电路输出的补偿信号进行复位；

所述采样放大电路用于在探测阶段中，将接收的所述探测信号处理后提供给采样输出端；在复位阶段中，向所述探测单元输出复位信号；

所述补偿电路用于在复位阶段中，向所述探测单元输出补偿信号。

2.如权利要求1所述的平板探测装置，其特征在于，所述探测单元包括：光电二极管、存储电容和控制晶体管；

其中，所述光电二极管的第一端与偏置电压端电连接，所述光电二极管的第二端与所述控制晶体管的第一端电连接；

所述存储电容的第一端与所述偏置电压端电连接，所述存储电容的第二端与所述光电二极管的第二端电连接；

所述控制晶体管的控制端与所述扫描信号端电连接，所述控制晶体管的第二端与所述采样放大电路电连接；

所述补偿电路包括第一补偿开关；所述第一补偿开关的第一端与补偿信号端电连接，所述第一补偿开关的控制端与触发信号端电连接，所述第一补偿开关的第二端与所述控制晶体管的第二端电连接。

3.如权利要求2所述的平板探测装置，其特征在于，所述第一补偿开关包括第一晶体管；

所述第一晶体管的第一端与所述补偿信号端电连接，所述第一晶体管的控制端与所述触发信号端电连接，所述第一晶体管的第二端与所述控制晶体管的第二端电连接。

4.如权利要求2所述的平板探测装置，其特征在于，所述补偿电路还包括第二补偿开关；所述第二补偿开关的第一端与所述补偿信号端电连接，所述第二补偿开关的控制端与所述触发信号端电连接，所述第二补偿开关的第二端与所述控制晶体管的第二端电连接。

5.如权利要求4所述的平板探测装置，其特征在于，所述第二补偿开关包括第二晶体管；所述第二晶体管的第一端与所述补偿信号端电连接，所述第二晶体管的控制端与所述触发信号端电连接，所述第二晶体管的第二端与所述控制晶体管的第二端电连接；所述第二晶体管与所述第一晶体管的类型不同。

6.如权利要求5所述的平板探测装置，其特征在于，所述第二晶体管为N型场效应晶体管，所述第一晶体管为P型场效应晶体管。

7.如权利要求1-6任一项所述的平板探测装置，其特征在于，所述复位信号和所述补偿信号均为固定电压信号，且复位信号和所述补偿信号的电压相同。

8.如权利要求1-6任一项所述的平板探测装置，其特征在于，所述采样放大电路包括电荷灵敏前置放大器和数据选择器；

其中，所述电荷灵敏前置放大器的第一输入端与所述探测单元电连接，所述电荷灵敏前置放大器的第二输入端与所述数据选择器的输出端电连接；

所述数据选择器的第一输入端与复位信号端电连接，所述数据选择器的第二输入端与第一参考电压端电连接。

9.如权利要求8所述的平板探测装置，其特征在于，所述电荷灵敏前置放大器包括运算放大器、可变电容和复位开关；

其中，所述运算放大器的反相输入端与所述控制开关的第二端电连接，所述运算放大器的同相输入端与所述数据选择器的输出端电连接，所述运算放大器的输出端与所述采样输出端电连接；

所述可变电容的第一端与所述运算放大器的反相输入端电连接，所述可变电容的第二端与所述运算放大器的输出端电连接；

所述复位开关的第一端与所述运算放大器的反相输入端电连接，所述复位开关的第二端与所述运算放大器的输出端电连接。

10.一种平板探测器系统，其特征在于，包括如权利要求1-9任一项所述的平板探测装置。