[发明专利]一种平板探测装置及系统在审

专利信息
申请号: 202010547190.4 申请日: 2020-06-16
公开(公告)号: CN111643102A 公开(公告)日: 2020-09-11
发明(设计)人: 张晔;徐帅 申请(专利权)人: 京东方科技集团股份有限公司;北京京东方传感技术有限公司
主分类号: A61B6/00 分类号: A61B6/00
代理公司: 北京同达信恒知识产权代理有限公司 11291 代理人: 金俊姬
地址: 100015 *** 国省代码: 北京;11
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摘要:
搜索关键词: 一种 平板 探测 装置 系统
【说明书】:

发明公开了一种平板探测装置及系统,包括平板探测器和多个采样电路,平板探测器包括多个探测单元;其中,一列探测单元与一个采样电路电连接;采样电路包括补偿电路和采样放大电路。通过设置有补偿电路,使探测单元在复位阶段中不仅接收采样放大电路输出的复位信号还可以接收补偿电路输出的补偿信号,从而对平板探测器中各探测单元均充分复位,进而可以使各探测单元在探测阶段中接收光信号之前的初始电位均相同,改善由于各探测单元的初始电位不同导致平板探测装置生成的图像均一性不良的问题。

技术领域

本发明涉及医疗电子领域,特别涉及一种平板探测装置及系统。

背景技术

数字化X线摄影(Digital Radiography,简称DR),是上世纪90年代发展起来的X线摄影新技术,以其更快的成像速度、更便捷的操作、更高的成像分辨率等显著优点,成为数字X线摄影技术的主导方向,并得到世界各国的临床机构和影像学专家认可。DR的技术核心是平板探测器,平板探测器是一种精密和贵重的设备,对成像质量起着决定性的作用,熟悉探测器的性能指标有助于我们提高成像质量和减少X线辐射剂量。

发明内容

本发明实施例提供一种平板探测装置及系统,可以提高成像质量。

因此,本发明实施例提供了一种平板探测装置,包括:平板探测器和多个采样电路;

所述平板探测器包括多个探测单元;其中,一列所述探测单元与一个所述采样电路电连接;

所述采样电路包括采样放大电路和补偿电路;

所述探测单元用于在探测阶段中,接收光信号并将接收的所述光信号转换为探测信号,以及在扫描信号端的第一信号的控制下将所述探测信号提供给所述采样放大电路;在复位阶段中,在扫描信号端的第二信号的控制下接收所述采样放大电路输出的复位信号和所述补偿电路输出的补偿信号进行复位;

所述采样放大电路用于在探测阶段中,将接收的所述探测信号处理后提供给采样输出端;在复位阶段中,向所述探测单元输出复位信号;

所述补偿电路用于在复位阶段中,向所述探测单元输出补偿信号。

可选地,所述探测单元包括:光电二极管、存储电容和控制晶体管;

其中,所述光电二极管的第一端与偏置电压端电连接,所述光电二极管的第二端与所述控制晶体管的第一端电连接;

所述存储电容的第一端与所述偏置电压端电连接,所述存储电容的第二端与所述光电二极管的第二端电连接;

所述控制晶体管的控制端与所述扫描信号端电连接,所述控制晶体管的第二端与所述采样放大电路电连接;

所述补偿电路包括第一补偿开关;所述第一补偿开关的第一端与补偿信号端电连接,所述第一补偿开关的控制端与触发信号端电连接,所述第一补偿开关的第二端与所述控制晶体管的第二端电连接。

可选地,所述第一补偿开关包括第一晶体管;

所述第一晶体管的第一端与所述补偿信号端电连接,所述第一晶体管的控制端与所述触发信号端电连接,所述第一晶体管的第二端与所述控制晶体管的第二端电连接。

可选地,所述补偿电路还包括第二补偿开关;所述第二补偿开关的第一端与所述补偿信号端电连接,所述第二补偿开关的控制端与所述触发信号端电连接,所述第二补偿开关的第二端与所述控制晶体管的第二端电连接。

可选地,所述第二补偿开关包括第二晶体管;所述第二晶体管的第一端与所述补偿信号端电连接,所述第二晶体管的控制端与所述触发信号端电连接,所述第二晶体管的第二端与所述控制晶体管的第二端电连接;所述第二晶体管与所述第一晶体管的类型不同。

可选地,所述第二晶体管为N型场效应晶体管,所述第一晶体管为P型场效应晶体管。

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