[发明专利]一种含多环β-酮结构的光敏型光刻胶树脂单体及其合成方法在审
申请号: | 202010549411.1 | 申请日: | 2020-06-16 |
公开(公告)号: | CN111875500A | 公开(公告)日: | 2020-11-03 |
发明(设计)人: | 傅志伟;贺宝元;邵严亮;潘新刚;薛富奎 | 申请(专利权)人: | 徐州博康信息化学品有限公司 |
主分类号: | C07C69/54 | 分类号: | C07C69/54;C07C67/29;C07D309/12;G03F7/027;G03F7/004 |
代理公司: | 暂无信息 | 代理人: | 暂无信息 |
地址: | 221327 江苏省*** | 国省代码: | 江苏;32 |
权利要求书: | 查看更多 | 说明书: | 查看更多 |
摘要: | |||
搜索关键词: | 一种 含多环 结构 光敏 光刻 树脂 单体 及其 合成 方法 | ||
本发明公开了一种含多环β‑酮结构的光敏型光刻胶树脂单体,涉及光刻胶树脂单体领域,其结构式如下所示:其中R1为甲基或者H,R2、R3分别独立的为氢、烷基、环烷基,R4为烷基或者环烷基,且R2和R4、R3和R4或者R2和R3可以通过共价键连接形成环状结构;n为1‑10的整数,该树脂单体具有曝光前后溶解度差异大,能够降低粗糙度,提高灵敏度和分辨率,有利于形成均一性良好的光刻图案,耐刻蚀性能良好。
技术领域
本发明涉及光刻胶树脂单体领域,尤其涉及光敏型树脂单体及其合成方法。
背景技术
光刻技术是指利用光刻材料(特指光刻胶)在可见光、紫外线、电子束等作用下的化学敏感性,通过曝光、显影、刻蚀等工艺过程,将设计在掩膜版上的图形转移到衬底上的图形微细加工技术。
光刻材料(特指光刻胶),又称光致抗蚀剂,是光刻技术中涉及的最关键的功能性化学材料,主要成分是树脂、光酸产生剂、以及相应的添加剂和溶剂,这类材料具有光(包括可见光、紫外线、电子束等)化学敏感性,经光化学反应,本身在显影液中的溶解性发生变化。根据光化学反应机理不同,光刻胶分为正性光刻胶与负性光刻胶:曝光后,光刻胶在显影液中溶解性增加,得到与掩膜版相同图形的称为正性光刻胶;曝光后,光刻胶在显影液中溶解性降低甚至不溶,得到与掩膜版相反图形的称为负性光刻胶。
光敏树脂单体是光刻胶聚合树脂的重要组成部分,主要作用是曝光前后产生极性差,从而导致在极性显影剂中溶解度不同,本发明提供一种新型结构的光敏型光刻胶树脂单体。
发明内容
本发明要解决的技术问题是克服现有技术的缺陷,提供一种新型的含多环β-酮结构的光敏型光刻胶树脂单体及其合成方法。
为了解决上述技术问题,本发明提供了如下的技术方案:
本发明提供一种含多环β-酮结构的光敏型光刻胶树脂单体,其特征在于,所述光刻胶树脂单体的结构式为:,其中R1为甲基或者 H,R2、R3分别独立的为氢、烷基、环烷基,R4为烷基或者环烷基,且R2和R4、 R3和R4或者R2和R3可以通过共价键连接形成环状结构,n为1-10的整数。
作为本发明的一种优选技术方案,所述树脂单体的具体结构包括:
本发明还相应的提供一种含多环β-酮结构的光敏型光刻胶树脂单体的合成方法,所述树脂单体的合成路线如下:
其中X为卤素,具体步骤:
a.初始原料A中的双键被氧化剂氧化后形成三元环氧基团的中间体B;
b.中间体B酸性条件下三元环氧基团水解生成邻二羟基结构的中间体C;
c.中间体C在碱性条件下,与一当量的(甲基)丙烯酰氯酯化生成(甲基)丙烯酸酯结构的中间体D;
d.中间体D在碱性条件下与卤代物F反应生成树脂单体E。
作为本发明的一种优选技术方案,合成步骤a的氧化剂为间氯过氧苯甲酸或者过氧化氢。
作为本发明的一种优选技术方案,合成步骤b的酸为硫酸。
作为本发明的一种优选技术方案,合成步骤c和步骤d中碱性条件,所述碱均选择有机碱,包括三乙胺、二异丙基胺、吡啶。
该专利技术资料仅供研究查看技术是否侵权等信息,商用须获得专利权人授权。该专利全部权利属于徐州博康信息化学品有限公司,未经徐州博康信息化学品有限公司许可,擅自商用是侵权行为。如果您想购买此专利、获得商业授权和技术合作,请联系【客服】
本文链接:http://www.vipzhuanli.com/pat/books/202010549411.1/2.html,转载请声明来源钻瓜专利网。
- 上一篇:上行控制信息发送接收方法、装置及系统
- 下一篇:一种口罩机及其鼻梁条导管结构