[发明专利]一种用于北斗导航芯片的连接线寿命测试装置

权利要求书

1.一种用于北斗导航芯片的连接线寿命测试装置，其特征在于：包括底架(1)，切痕机(3)，减震滑块(4)，力度标尺(5)，传动轴(6)，驱动装置(7)；所述底架(1)的上表面滑动连接有两处拉伸座(2)；所述减震滑块(4)活动连接在底架(1)的上表面；所述拉伸座(2)包括有下夹块(201)和上夹块(202)；所述切痕机(3)的架体通过焊接连接在底架(1)的前方；所述力度标尺(5)的下端通过焊接连接在切痕机(3)的底架(1)上方；所述传动轴(6)的两端分别通过轴承活动连接在底架(1)的下表面两侧；所述驱动装置(7)的支架通过焊接连接在底架(1)的下表面，且驱动装置(7)的输出轴通过齿轮啮合连接传动轴(6)的从动轮(601)。

2.如权利要求1所述用于北斗导航芯片的连接线寿命测试装置，其特征在于：所述底架(1)的上表面上加工有一处双凸条(101)，且双凸条(101)的中间开设有两条方形结构的滑槽(102)，所述双凸条(101)是截面呈“T”形结构的两条互相平行的凸条。

3.如权利要求1所述用于北斗导航芯片的连接线寿命测试装置，其特征在于：所述下夹块(201)的下表面开设有两条截面呈“T”形的上滑轨(2011)，且下夹块(201)的下表面固定连接有开设横向螺纹孔的螺纹导块(2012)，撑板(2013)通过焊接固定连接在下夹块(201)的上方，且撑板(2013)上方开设有一处螺纹孔，并且撑板(2013)呈L形折板，所述下夹块(201)的上表面开设有齿形条。

4.如权利要求1所述用于北斗导航芯片的连接线寿命测试装置，其特征在于：所述切痕机(3)的左侧面上固定连接有一处限位滑块(301)，且限位滑块(301)的外侧固定连接有一处标度针(302)。

5.如权利要求1所述用于北斗导航芯片的连接线寿命测试装置，其特征在于：所述减震滑块(4)的上表面两侧固定连接有两处侧滚筒(402)的轴架，且减震滑块(4)上表面中间固定连接有弹簧杆(404)，并且弹簧杆(404)内通过弹簧连接有中间滚筒(403)的轴架，所述减震滑块(4)的下表面设有一处“T”形的下凸条(401)，所述侧滚筒(402)的高度低于中间滚筒(403)的高度。

6.如权利要求1所述用于北斗导航芯片的连接线寿命测试装置，其特征在于：所述力度标尺(5)的中间开设有读数槽(501)，且读数槽(501)的外侧加工有刻度标，所述力度标尺(5)呈弧形结构。

7.如权利要求1所述用于北斗导航芯片的连接线寿命测试装置，其特征在于：所述传动轴(6)的中间固定连接有一处从动轮(601)，侧传动丝杠(602)分两处开设在传动轴(6)的两端，且传动轴(6)两端的侧传动丝杠(602)的螺距和齿距相同，旋向相反。

8.如权利要求1所述用于北斗导航芯片的连接线寿命测试装置，其特征在于：所述上夹块(202)的下表面开设有T形的滑槽，压板(2021)的上方加工有一处T形结构的上凸条(2022)，且上凸条(2022)滑动连接在上夹块(202)的滑槽内，所述压板(2021)的下表面加工有齿形条。