[发明专利]一种用于北斗导航芯片的连接线寿命测试装置

说明书

本发明提供一种用于北斗导航芯片的连接线寿命测试装置，包括底架，切痕机，减震滑块，力度标尺，传动轴，驱动装置；所述底架的上表面滑动连接有两处拉伸座；所述减震滑块活动连接在底架的上表面；所述拉伸座包括有下夹块和上夹块；所述切痕机的架体通过焊接连接在底架的前方；所述力度标尺的下端通过焊接连接在切痕机的底架上方；所述传动轴的两端分别通过轴承活动连接在底架的下表面两侧；所述驱动装置的支架通过焊接连接在底架的下表面，且驱动装置的输出轴通过齿轮啮合连接传动轴的从动轮，根据切痕深度，相比同种类的连接线切痕较深，说明绝缘层较脆，老化严重，不利于继续使用，若切痕较浅，说明此绝缘层韧性较强，抗磨损能力良好。

技术领域

本发明属于芯片连接线检测装置技术领域，更具体地说，特别涉及一种用于北斗导航芯片的连接线寿命测试装置。

背景技术

在北斗导航设备中，内部的各个芯片可起到不同分工作用，同时也作为导航设备的核心零件，一般的芯片使用寿命在8-20年之间，为保证芯片可以正常运行，芯片连接的牢固性和导线的质量尤为重要。连接线使用期限的长短,取决于连接线的质量和连接线安装的环境。电线主要靠外面一层包皮绝缘,时间一长,受到腐蚀性气体的腐蚀,绝缘性能逐渐降低,慢慢老化变硬,发脆或脱落,这时就不起绝缘作用了。家用电线的外表的绝缘层多用塑料和橡胶制成,使用时间长了就会老化,失去绝缘作用。一般连接线正常情况使用可达10-20年，老化的连接线可能使芯片出现电压不稳定、短路等情况，因此在进行检测时，芯片连接线的状态同样是决定北斗导航设备的关键因素。

例如申请号：CN201520181985.2本发明公开了一种电子连接线检测用摆动装置，包括接口旋转摆杆、驱动气缸、接口板、接口板架、检测接口、伺服电机、固线夹和电控箱；驱动气缸和伺服电机都是由电控箱电性连接控制；检测接口设在接口板上；接口旋转摆杆由驱动气缸驱动，接口旋转摆杆连动检测接口自转调整检测接口角度；接口板轴接在接口板架上端，伺服电机驱动接口板自旋转；固线夹设在接口板前方，以夹固电子连接线线体。

基于上述专利的检索，以及结合现有技术中的结构发现，上述专利中的连接线检测设备在对连接线检测时，连接线外层的绝缘层是决定连接线寿命的重要因素，传统的检测不注重检测连接线的外层绝缘层，且检测时缺少合适的夹具夹持，夹持时不能掌握合适的紧致性，都会影响检测的准确性。

发明内容

为了解决上述技术问题，本发明提供一种用于北斗导航芯片的连接线寿命测试装置，以解决上述专利中的连接线检测设备在对连接线检测时，连接线外层的绝缘层是决定连接线寿命的重要因素，传统的检测不注重检测连接线的外层绝缘层，且检测时缺少合适的夹具夹持，夹持时不能掌握合适的紧致性，都会影响检测的准确性的问题。

本发明一种用于北斗导航芯片的连接线寿命测试装置的目的与功效，由以下具体技术手段所达成：

一种用于北斗导航芯片的连接线寿命测试装置，包括底架，切痕机，减震滑块，力度标尺，传动轴，驱动装置；所述底架的上表面滑动连接有两处拉伸座；所述减震滑块活动连接在底架的上表面；所述拉伸座包括有下夹块和上夹块；所述切痕机的架体通过焊接连接在底架的前方；所述力度标尺的下端通过焊接连接在切痕机的底架上方；所述传动轴的两端分别通过轴承活动连接在底架的下表面两侧；所述驱动装置的支架通过焊接连接在底架的下表面，且驱动装置的输出轴通过齿轮啮合连接传动轴的从动轮。

进一步的，所述底架的上表面上加工有一处双凸条，且双凸条的中间开设有两条方形结构的滑槽，所述双凸条是截面呈“T”形结构的两条互相平行的凸条。

进一步的，所述下夹块的下表面开设有两条截面呈“T”形的上滑轨，且下夹块的下表面固定连接有开设横向螺纹孔的螺纹导块，撑板通过焊接固定连接在下夹块的上方，且撑板上方开设有一处螺纹孔，并且撑板呈L形折板，所述下夹块的上表面开设有齿形条。

进一步的，所述切痕机的左侧面上固定连接有一处限位滑块，且限位滑块的外侧固定连接有一处标度针。