[发明专利]一种适用于大电流测试的探针测试底座在审

专利信息
申请号: 202010554812.6 申请日: 2020-06-17
公开(公告)号: CN111537869A 公开(公告)日: 2020-08-14
发明(设计)人: 刘泽鑫 申请(专利权)人: 深圳市容微精密电子有限公司
主分类号: G01R31/28 分类号: G01R31/28;G01R1/04
代理公司: 深圳鸿业专利代理有限公司 44546 代理人: 朱海东;刘莎
地址: 518000 广东省深圳市龙华区观湖街道*** 国省代码: 广东;44
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摘要:
搜索关键词: 一种 适用于 电流 测试 探针 底座
【权利要求书】:

1.一种适用于大电流测试的探针测试底座,包括基板(1),其特征在于:所述基板(1)的上端开设有放置槽(6),所述基板(1)的表面开设有固定孔(2),所述基板(1)的内壁设置有连接装置(5),所述连接装置(5)包括包裹座(51),所述包裹座(51)位于基板(1)的内壁,所述包裹座(51)的表面与基板(1)的内壁固定连接,所述包裹座(51)的上端插设并固定连接有导筒(55),所述导筒(55)的下端固定连接有连接杆(53),所述导筒(55)的内壁固定连接有压缩弹簧(54),所述压缩弹簧(54)的上端固定连接有导杆(52),所述导杆(52)的表面与导筒(55)的内壁滑动连接,所述导杆(52)与包裹座(51)的内壁相抵,且导杆(52)与包裹座(51)电性连接。

2.根据权利要求1所述的一种适用于大电流测试的探针测试底座,其特征在于:所述基板(1)的上端设置有防护装置(3),所述防护装置(3)包括防护块(34),所述防护块(34)的下端与基板(1)的上端转动连接,所述防护块(34)的表面固定连接有定位块(33),所述基板(1)的上端固定连接有安装架(31),所述安装架(31)的表面插设并滑动连接有卡块(32),所述卡块(32)的下端与定位块(33)的上端相抵。

3.根据权利要求2所述的一种适用于大电流测试的探针测试底座,其特征在于:所述防护块(34)的上端设置有定位装置(4),所述定位装置(4)包括拉伸弹簧(43),所述拉伸弹簧(43)与防护块(34)的上端固定连接,所述拉伸弹簧(43)的数量为两个,所述拉伸弹簧(43)的上端固定连接有连接块(44),所述连接块(44)的下端固定连接有滑杆(42),所述滑杆(42)贯穿防护块(34)并与其内壁滑动连接,所述滑杆(42)的下端固定连接有抵板(41)。

4.根据权利要求1所述的一种适用于大电流测试的探针测试底座,其特征在于:所述防护块(34)的上端设置有限位装置(7),所述限位装置(7)包括传动杆(72),所述传动杆(72)贯穿防护块(34),所述传动杆(72)与防护块(34)螺纹连接,所述传动杆(72)的下端转动连接有抵块(74)。

5.根据权利要求3所述的一种适用于大电流测试的探针测试底座,其特征在于:所述滑杆(42)的数量为两个,两个所述滑杆(42)间呈镜像设置,所述滑杆(42)的一端贯穿拉伸弹簧(43)并与其内壁滑动连接。

6.根据权利要求4所述的一种适用于大电流测试的探针测试底座,其特征在于:所述传动杆(72)上套设并固定连接有限位块(73),所述限位块(73)的上端与连接块(44)的下端相抵,所述传动杆(72)的上端固定连接有调节块(71)。

7.根据权利要求3所述的一种适用于大电流测试的探针测试底座,其特征在于:所述抵板(41)的上端开设有通孔,所述抵块(74)贯穿通孔,所述抵块(74)的表面与通孔的内壁滑动连接。

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