[发明专利]一种适用于大电流测试的探针测试底座

说明书

本发明提供一种适用于大电流测试的探针测试底座，涉及高铁及汽车电子芯片测试领域，该一种适用于大电流测试的探针测试底座，包括基板，基板的上端开设有放置槽，基板的表面开设有固定孔，基板的内壁设置有连接装置，连接装置包括包裹座，包裹座位于基板的内壁，包裹座的表面与基板的内壁固定连接，包裹座的上端插设并固定连接有导筒，导筒的下端固定连接有连接杆，导筒的内壁固定连接有压缩弹簧，压缩弹簧的上端固定连接有导杆。在使用时，将基板与电路板电性连接，将被检测芯片插入放置槽中，检测芯片与导杆相抵，压缩弹簧受力变形产生弹力并扭曲，导杆受力插入导筒中，导杆在压缩弹簧的扭曲下产生偏移并与导筒的内壁相抵。

技术领域

本发明涉及高铁及汽车电子芯片测试领域，具体为一种适用于大电流测试的探针测试底座，增加了连接路径的横截面，达到大电流通过性，可以解决国内外车载芯片大电流的测试难题。

背景技术

我们知道，车载芯片性能测试，或者可靠性试验，测试电流都非常大，特别是IGBT(InsulatedGateBipolarTransistor)，绝缘栅双极型晶体管，测试电流达到100A～200A，传统的测试探针难于达到这个高的电流要求，其他弹簧片连接测试方式，开发费用高，而且接触性差，难于满足使用要求。

本发明主要解决的就是探针测试座大电流测试运用，能够最低成本达到测试要求，解决大电流测试难题。

发明内容

(一)解决的技术问题

针对现有技术的不足，本发明提供了一种适用于大电流测试的探针测试底座，解决了检测设备无法通入较大电流，影响芯片的检测的问题。

(二)技术方案

为实现以上目的，本发明通过以下技术方案予以实现：一种适用于大电流测试的探针测试底座，包括基板，所述基板的上端开设有放置槽，所述基板的表面开设有固定孔，所述基板的内壁设置有连接装置，所述连接装置包括包裹座，所述包裹座位于基板的内壁，所述包裹座的表面与基板的内壁固定连接，所述包裹座的上端插设并固定连接有导筒，所述导筒的下端固定连接有连接杆，所述导筒的内壁固定连接有压缩弹簧，所述压缩弹簧的上端固定连接有导杆，所述导杆的表面与导筒的内壁滑动连接。

优选的，所述基板的上端设置有防护装置，所述防护装置包括防护块，所述防护块的下端与基板的上端转动连接，所述防护块的表面固定连接有定位块，所述基板的上端固定连接有安装架，所述安装架的表面插设并滑动连接有卡块，所述卡块的下端与定位块的上端相抵，所述导杆与包裹座的内壁相抵，且导杆与包裹座电性连接。

优选的，所述防护块的上端设置有定位装置，所述定位装置包括拉伸弹簧，所述拉伸弹簧与防护块的上端固定连接，所述拉伸弹簧的数量为两个，所述拉伸弹簧的上端固定连接有连接块，所述连接块的下端固定连接有滑杆，所述滑杆贯穿防护块并与其内壁滑动连接，所述滑杆的下端固定连接有抵板。

优选的，所述防护块的上端设置有限位装置，所述限位装置包括传动杆，所述传动杆贯穿防护块，所述传动杆与防护块螺纹连接，所述传动杆的下端转动连接有抵块。

优选的，所述滑杆的数量为两个，两个所述滑杆间呈镜像设置，所述滑杆的一端贯穿拉伸弹簧并与其内壁滑动连接。

优选的，所述传动杆上套设并固定连接有限位块，所述限位块的上端与连接块的下端相抵，所述传动杆的上端固定连接有调节块。

优选的，所述抵板的上端开设有通孔，所述抵块贯穿通孔，所述抵块的表面与通孔的内壁滑动连接。