[发明专利]自电容数据的处理方法及装置在审
申请号: | 202010557122.6 | 申请日: | 2020-06-17 |
公开(公告)号: | CN111708457A | 公开(公告)日: | 2020-09-25 |
发明(设计)人: | 曲少凡;姜鹏 | 申请(专利权)人: | 北京集创北方科技股份有限公司 |
主分类号: | G06F3/041 | 分类号: | G06F3/041;G06F3/044 |
代理公司: | 北京超凡宏宇专利代理事务所(特殊普通合伙) 11463 | 代理人: | 钟扬飞 |
地址: | 102600 北京市大兴区北京经*** | 国省代码: | 北京;11 |
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摘要: | |||
搜索关键词: | 电容 数据 处理 方法 装置 | ||
1.一种自电容数据的处理方法,其特征在于,包括:
获取每一方向电极对应的自电容容值变化量和互电容容值变化量;
针对每一方向电极对应的自电容容值变化量,根据所述方向电极对应的互电容容值变化量,对所述方向电极对应的自电容容值变化量进行归一化,得到每一自电容容值变化量对应的归一化结果;
利用处于指定范围内的归一化结果进行触点的定位。
2.根据权利要求1所述的方法,其特征在于,根据所述方向电极对应的互电容容值变化量,对所述方向电极对应的自电容容值变化量进行归一化,包括:
从所述方向电极对应的所有互电容容值变化量中筛选出大于第一阈值的互电容容值变化量;
对筛选出的互电容容值变化量进行加和,得到容值变化累加值;
根据已知的互电容容值变化最大值以及所述容值变化累加值,对所述方向电极对应的自电容容值变化量进行归一化。
3.根据权利要求2所述的方法,其特征在于,根据已知的互电容容值变化最大值以及所述容值变化累加值,对所述方向电极对应的自电容容值变化量进行归一化,采用以下公式:
ScRXAdj_n=ScRx_n×McMax/RxMcSum
其中,ScRXAdj_n表示归一化结果,ScRx_n表示自电容容值变化量,McMax表示互电容容值变化最大值,RxMcSum表示容值变化累加值。
4.根据权利要求2所述的方法,其特征在于,对所述方向电极对应的自电容容值变化量进行归一化之前,所述方法还包括:
获取每个检测点的互电容数据;
针对每个检测点,将所述检测点的互电容数据与基准电容进行比较,获得每个检测点的容值变化量;
遍历每个检测点的容值变化量,得到所述互电容容值变化最大值。
5.根据权利要求2所述的方法,其特征在于,从所述方向电极对应的所有互电容容值变化量中筛选出大于第一阈值的互电容容值变化量之前,所述方法还包括:
根据所述互电容容值变化最大值,确定所述第一阈值。
6.根据权利要求2所述的方法,其特征在于,所述利用处于指定范围内的归一化结果进行触点的定位之前,所述方法还包括:
根据所述互电容容值变化最大值,生成所述指定范围。
7.根据权利要求1所述的方法,其特征在于,所述利用处于指定范围内的归一化结果进行触点的定位,包括:
保留处于指定范围内的归一化结果,并将不处于指定范围内的归一化结果置为零;
利用所述归一化结果替换对应的所述自电容容值变化量,进行触点的定位。
8.一种自电容数据的处理装置,其特征在于,包括:
数据获取模块,用于获取每一方向电极对应的自电容容值变化量和互电容容值变化量;
归一化模块,用于针对每一方向电极对应的自电容容值变化量,根据所述方向电极对应的互电容容值变化量,对所述方向电极对应的自电容容值变化量进行归一化,得到每一自电容容值变化量对应的归一化结果;
数据筛选模块,用于利用处于指定范围内的归一化结果进行触点的定位。
9.一种触控芯片,其特征在于,所述触控芯片包括:
处理器;
用于存储处理器可执行指令的存储器;
其中,所述处理器被配置为执行权利要求1-7任意一项所述的自电容数据的处理方法。
10.一种计算机可读存储介质,其特征在于,所述存储介质存储有计算机程序,所述计算机程序可由处理器执行以完成权利要求1-7任意一项所述的自电容数据的处理方法。
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